詳細摘要： Keysight B1500A半導體參數分析儀是一款多功能的設備特性分析儀，支持IV，CV，脈沖/動態(tài)IV等。大型機和插入式模塊可表征大多數電子設備以及材料，半...
產品型號：所在地：更新時間：2024-04-01 在線留言
北京東方中科集成科技股份有限公司
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詳細摘要： Keysight B1500A半導體參數分析儀是一款多功能的設備特性分析儀，支持IV，CV，脈沖/動態(tài)IV等。大型機和插入式模塊可表征大多數電子設備以及材料，半...
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詳細摘要： 4200-SCS半導體特性分析系統(tǒng)是用于器件、材料和半導體工藝參數分析的完整解決方案。這種的參數分析儀具有的測量靈敏度和精度，同時繼承了嵌入式Windows操作...
產品型號：所在地：更新時間：2024-04-01 在線留言
詳細摘要： 2600-PCT-xB大功率半導體器件測試系統(tǒng)可以提供高達10kV或100A的電流、電壓測試范圍，可匹配目前的大功率半導體器件測試對大電壓和大電流的要求，通過增...
產品型號：所在地：更新時間：2024-04-01 在線留言
詳細摘要： X系列是一款專業(yè)應對各類芯片性能測試 的綜合型半自動晶圓探針臺，集成了電學、光波、微波等多種功能，高測試精度、運行效率與系統(tǒng)穩(wěn)定性，可匹配多種測試應用環(huán)境，能為...
產品型號：所在地：更新時間：2024-03-30 在線留言
詳細摘要： CG系列探針臺可提供在超高真空與高低溫轉換的環(huán)境下， 實現對器件及材料表征的IV/CV特性測試、射頻測試、光電 測試、電磁輸運特性及霍爾效應等測試。 通過設置真...
產品型號：所在地：更新時間：2024-03-30 在線留言
詳細摘要： C系列探針臺通過增加屏蔽腔體的結構可實現無電磁干擾 (EMI) /射頻干擾 (RFI)和不透光的測量環(huán)境，可在非真空條件下實現高低溫測試需求。
產品型號：所在地：更新時間：2024-03-30 在線留言
詳細摘要： FA系列探針臺是專為失效分析實驗室設計的一款量測設備，具光學特性、激光特性，設備結構穩(wěn)定，系統(tǒng)性能優(yōu)異， 支持多功能升級，產品功能豐富齊全。
產品型號：所在地：更新時間：2024-03-30 在線留言
詳細摘要： SEMISHARE研發(fā)的卡盤移動技術，可滿足您對整片晶圓快速測試的需求，H系列探針臺非常適合研發(fā)類實驗室的一次性預算購置。
產品型號：所在地：更新時間：2024-03-30 在線留言
詳細摘要： 吉時利的參數分析系統(tǒng)配置是功率器件特性分析的完整分析方案，包括高質量儀器、電纜、測試夾具和軟件。提供7種配置，每種配置都具有快速檢查器件基本參數（例如擊穿電壓）...
產品型號：所在地：更新時間：2024-03-30 在線留言
詳細摘要： S500自動參數測試系統(tǒng)基于吉時利公司的高性能源表及電測技術，可完成各種直流、交流信號測試，可廣泛用于半導體工藝制程的過程監(jiān)控、重復性監(jiān)控及器件檢測領域。
產品型號：所在地：更新時間：2024-03-30 在線留言
詳細摘要： TH510系列半導體C-V特性分析儀創(chuàng)新性地采用了雙CPU架構、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內置使用說明及幫助等新一代技術，適...
產品型號：所在地：更新時間：2023-07-22 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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