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更新時間:2024-03-30 14:23:11瀏覽次數:875次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網X系列是一款專業(yè)應對各類芯片性能測試 的綜合型半自動晶圓探針臺,集成了電學、光波、微波等多種功能,高測試精度、運行效率與系統(tǒng)穩(wěn)定性,可匹配多種測試應用環(huán)境,能為各類晶圓和器件提供可靠性測試。
X系列是一款專業(yè)應對各類芯片性能測試 的綜合型半自動晶圓探針臺,集成了電學、光波、微波等多種功能,高測試精度、運行效率與系統(tǒng)穩(wěn)定性,可匹配多種測試應用環(huán)境,能為各類晶圓和器件提供可靠性測試。
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