CLL系列滑塊式直線(xiàn)納米位移臺(tái)
| 型號(hào) | 行程 | 尺寸 | 精度 |
| CLL42 | 160-680 mm | 60 x 16（開(kāi)環(huán)滑塊） | 1 nm |
其他參數(shù)及選項(xiàng)
- 壓電掃描精度<1nm
- 速度>15mm/s
- 阻塞力≥5N
- 垂直負(fù)載：3kg
- 可選閉環(huán)驅(qū)動(dòng)器及分辨率
- -L: 4nm(MCS2控制器)
- -S: 1nm(MCS2控制器)
- 可選導(dǎo)軌支架和定制孔徑
- 高真空和超高真空選項(xiàng)：HV (1E-6 mbar); UHV (1E-11 mbar)
| 產(chǎn)品特點(diǎn) | |
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | |
| ? 光學(xué)研究： 電動(dòng)光闌、狹縫、濾光片輪、光纖準(zhǔn)直、鏡片調(diào)節(jié) ? 掃描電鏡/光學(xué)/原子力顯微鏡：樣品、探測(cè)器/光源定位、樣品操作 ? 自動(dòng)化控制：低成本、超小體積、高精度、模塊化、直接集成 ? 材料應(yīng)用：缺口測(cè)量、張力、微小壓縮測(cè)量、刮痕彎曲等測(cè)量 ? 天文、航天航空： 高加速度、低壓、低溫條件下控制 ? 度量衡學(xué)：長(zhǎng)度測(cè)量、厚度測(cè)量、坐標(biāo)測(cè)量、位置計(jì)量 ? 生命科學(xué)：細(xì)胞操作、膜片鉗、計(jì)數(shù)&分選 |
