詳細(xì)摘要： 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀能測(cè)試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE...
產(chǎn)品型號(hào)：STD2000所在地：西安市更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言
陜西天士立科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀能測(cè)試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE...
產(chǎn)品型號(hào)：STD2000所在地：西安市更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 二極管正向浪涌電流測(cè)試系統(tǒng)ST-IFSM_X可用于各類(lèi)二極管（Diode）以及可控硅（SCR）的正向浪涌電流（IFSM）試驗(yàn)，包括三極管（Triode）、MOS...
產(chǎn)品型號(hào)：ST-IFSM_X所在地：西安市更新時(shí)間：2024-03-21 在線留言
詳細(xì)摘要： 環(huán)境老化試驗(yàn)系統(tǒng)ST-HTXB適用于各種封裝類(lèi)型的Diode、BJT、MOS-FET、SCR、橋堆、IGBT單管/模塊、IPM模塊等環(huán)境老化試驗(yàn)
產(chǎn)品型號(hào)：ST-HTXB所在地：西安市更新時(shí)間：2024-03-21 在線留言
詳細(xì)摘要： 半導(dǎo)體熱特性試驗(yàn)系統(tǒng)ST-PCX：整機(jī)配置3個(gè)測(cè)試通道，每個(gè)通道4顆器件，整機(jī)共可同時(shí)測(cè)試8顆器件。測(cè)試電流：范圍10~1000mA，精度≦0.5％±...
產(chǎn)品型號(hào)：ST-PCX所在地：西安市更新時(shí)間：2024-03-21 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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