ITC57300動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)主機(jī)接受測試頭，這些測試頭可在諸如絕緣柵雙極晶體管（IGBT），功率MOSFET，二極管和其他雙極器件之類的半導(dǎo)體器件上執(zhí)行無損瞬態(tài)測量（需要其他可選的偏置電源和定制個(gè)性化板）。大型機(jī)中包括分析和執(zhí)行電阻和電感開關(guān)時(shí)間，開關(guān)損耗，柵極電荷，Trr / Qrr和其他瞬態(tài)測試所需的所有測試設(shè)備和軟件。

專為特定類型的瞬態(tài)測試設(shè)計(jì)的測試頭與主機(jī)上的特殊測試頭接收器配對。盡管測試頭只能執(zhí)行一項(xiàng)特定的測試，但每個(gè)測試頭中的個(gè)性化板都會針對特定的設(shè)備，設(shè)備封裝和各種設(shè)備電路布置重新配置測試頭。

測試頭

?ITC57210-N和P溝道功率MOSFET的R開關(guān)時(shí)間，MIL-STD-750，方法3472

?ITC57220-功率MOSFET和二極管的Trr / Qrr，MIL-STD-750，方法3473

?ITC57230-功率MOSFET的柵極電荷，MIL-STD-750，方法3471

?ITC57240 IGBT的電感性開關(guān)時(shí)間，MIL-STD 750，方法3477

?ITC57250短路（Isc）耐受時(shí)間，MIL-STD 750，方法3479

?ITC57260-功率MOSFET的柵極電阻（Rg），輸入電容（Ciss），輸出電容（Coss）和反向電容（Crss），JEDEC標(biāo)準(zhǔn)JESD24-11