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ST5000系列高性能數(shù)字混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

為了更好地滿足客戶高性能、高穩(wěn)定性的測(cè)試需求，加速科技重磅推出了新一代測(cè)試系統(tǒng)ST5000系列。該系列包含ST5000與ST5000HD兩款產(chǎn)品，支持1024數(shù)字通道配置、1Gbps速率傳輸，Pattern Rate 支持250Mhz。硬件結(jié)構(gòu)采用Direct Docking連接方式，兼容Jtype針卡，較大程度降低客戶轉(zhuǎn)平臺(tái)治具成本。配套設(shè)計(jì)的公用loadboard，可以極大縮短客戶產(chǎn)品硬件......

詳細(xì)介紹

為了更好地滿足客戶高性能、高穩(wěn)定性的測(cè)試需求，加速科技重磅推出了新一代測(cè)試系統(tǒng)ST5000系列。

該系列包含ST5000與ST5000HD兩款產(chǎn)品，支持1024數(shù)字通道配置、1Gbps速率傳輸，Pattern Rate 支持250Mhz。硬件結(jié)構(gòu)采用Direct Docking連接方式，兼容Jtype針卡，較大程度降低客戶轉(zhuǎn)平臺(tái)治具成本。配套設(shè)計(jì)的公用loadboard，可以極大縮短客戶產(chǎn)品硬件開(kāi)發(fā)周期。ST5000還具有靈活的可擴(kuò)展性，為后期藍(lán)牙測(cè)試模塊、RF測(cè)試模塊及各類高性價(jià)比解決方案奠定了良好基礎(chǔ)。

ST-IDE軟件提供用戶友好的集成開(kāi)發(fā)環(huán)境，豐富的開(kāi)發(fā)和調(diào)試工具，方便客戶進(jìn)行測(cè)試程序開(kāi)發(fā)。針對(duì)工廠批量測(cè)試，提供專用的工廠界面，并擁有豐富的數(shù)據(jù)記錄和分析工具。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：ST5000系列混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)

高效率
- 內(nèi)部集成40Gbps通信總線，雙工模式高效數(shù)據(jù)傳輸
- FPGA硬件實(shí)現(xiàn)調(diào)度算法，無(wú)阻塞全并行測(cè)試
- 廣播式向量加載及動(dòng)態(tài)修改，實(shí)現(xiàn)向量高速下載
- 相比傳統(tǒng)機(jī)臺(tái)效率提升30%以上
高性能
- 數(shù)字IO速率高達(dá)1Gbps（Hard Docking模式）
- 配合高速LoadBoard解決方案，可以支持17.5Gbps高速接口測(cè)試，支持10GE/MIPI/HDMI/JED204B/ LVDS/PCIe/自定義協(xié)議
易維護(hù)
- 通信架構(gòu)，模塊化設(shè)計(jì)
- 支持級(jí)聯(lián)擴(kuò)展，提升通道密度
- 支持功能板卡擴(kuò)展，提升資源種類
可定制
- 自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)，可依據(jù)客戶需求定制測(cè)試系統(tǒng)
- 提供軟硬件算法定制化
- 提供IC和模組系統(tǒng)級(jí)測(cè)試方案

應(yīng)用場(chǎng)景：ST5000系列混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)

ST5000系列數(shù)字混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)可以廣泛應(yīng)用于SOC/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、CPLD/FPGA、CIS、指紋芯片、PMIC、PA、射頻開(kāi)關(guān)、濾波器等半導(dǎo)體晶圓、器件測(cè)試和模塊系統(tǒng)級(jí)測(cè)試。

產(chǎn)品關(guān)鍵特性：ST5000系列混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)

采用數(shù)字混合架構(gòu)，單板集成數(shù)字、模擬混合信號(hào)測(cè)試功能，支持250/500MHz時(shí)鐘頻率，500Mbps/1Gbps數(shù)據(jù)速率
DFB32H業(yè)務(wù)板支持32路數(shù)字通道，每通道含獨(dú)立PPMU模塊，4機(jī)臺(tái)級(jí)聯(lián)，支持1024路數(shù)字通道1024sites并測(cè)
每通道192M Vector存儲(chǔ)深度，SCAN模式單SCAN Chain高達(dá)3GB，高速通信架構(gòu)，Pattern加載及測(cè)試過(guò)程中的動(dòng)態(tài)修改以廣播方式下發(fā)，提高并行測(cè)試效率
突破傳統(tǒng)Format限制，由用戶自定義波形，128組timing set、1024組edge set、6edge可調(diào)，輸入輸出自由轉(zhuǎn)換，大大減少程序開(kāi)發(fā)限制
DFB32H業(yè)務(wù)支持4路DPS（+8.4V/-3.25V電平設(shè)定，驅(qū)動(dòng)電流500mA），電源支持Gang Mode
ST5000 支持64路DPS， ST5000HD支持128路DPS
DFB32H業(yè)務(wù)板支持4路100MHz TMU，1路2MSPS 16bit AWG，1路1MSPS 16bit Digitizer
系統(tǒng)采用Direct Docking連接方式，增加晶圓測(cè)試穩(wěn)定性
通信系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)，超負(fù)荷硬件自測(cè)系統(tǒng)，保證系統(tǒng)超長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行
智能軟硬件維護(hù)系統(tǒng)，提供故障代碼，精確定位軟硬件故障位置
ST-IDE軟件提供基于Eclipse的IDE開(kāi)發(fā)環(huán)境，支持基于C/C++的開(kāi)發(fā)，提供各種開(kāi)發(fā)工具和調(diào)試工具
針對(duì)工廠量產(chǎn)提供專門(mén)GUI，數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)顯示監(jiān)控，提供豐富的數(shù)據(jù)記錄分析工具

ST5000系列混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)

系統(tǒng)規(guī)格：ST5000系列混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)

板卡型號(hào)	詳細(xì)規(guī)格
SCB	實(shí)現(xiàn)整個(gè)模塊板卡互聯(lián)和控制提供8個(gè)業(yè)務(wù)槽位，對(duì)外提供級(jí)聯(lián)接口、調(diào)試串口
DFB32H	集成數(shù)字、模擬混合信號(hào)測(cè)試功能 32ch數(shù)字通道：500Mbps/1Gbps數(shù)據(jù)速率，每通道192M Vector存儲(chǔ)深度，SCAN模式單SCAN Chain高達(dá)3GB，高速通信架構(gòu)，Pattern加載及測(cè)試過(guò)程中的動(dòng)態(tài)修改以廣播方式下發(fā)，提高并行測(cè)試效率，突破傳統(tǒng)Format限制，由用戶自定義波形，128組timing set, 6 edge可調(diào)，輸入輸出自由轉(zhuǎn)換
	4ch DPS：輸出電流±500mA，輸出電壓范圍-3.25V to 8.4V，支持Gang模式
	32ch PPMU：輸出電流范圍±40mA，輸出電壓范圍-2V to 6.5V
	4ch BPMU：輸出電流范圍-60 to 80mA，輸出電壓范圍-2V to 9.25V
	4ch TMU：100MHz
	1ch AWG：16bit 2Msps，波形存儲(chǔ)深度64MB，單端輸出
	1ch DGT：16bit 1Msps，波形存儲(chǔ)深度64MB，單端輸入
	8ch CBIT：輸出電壓5V，驅(qū)動(dòng)電流100mA
	4ch GPIO：通用IO接口，可以配置為I2C，SPI等低速接口
配置	2SCB+16業(yè)務(wù)板（DFB32）
配置	4SCB+32業(yè)務(wù)板（DFB32）

系統(tǒng)配置：ST5000系列混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)

根據(jù)測(cè)試資源要求，通過(guò)模塊擴(kuò)展，可以滿足資源場(chǎng)景配置

ST5000混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)	512數(shù)字通道，512PPMU通道，64DPS
ST5000HD混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)	1024數(shù)字通道，1024PPMU通道，128DPS