當前位置：深圳市科銳詩汀科技有限公司>>低溫黑體及大面源黑體>> 低溫黑體和大面源黑體
低溫黑體和大面源黑體美國SBIR紅外公司成立于1986年，經(jīng)過逾20年的發(fā)展，已經(jīng)成為國際上電光測試裝備的*，所研發(fā)產(chǎn)品尤其是黑體源大量的應(yīng)用于美國紅外系統(tǒng)測試及焦平面探測器測試等領(lǐng)域。其產(chǎn)品性能主要如下：
腔式黑體
低溫黑體
大面源黑體
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負責，儀表網(wǎng)對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規(guī)避購買風險，建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。
儀表網(wǎng)