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產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地武漢市
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更新時間：2025-02-05 07:47:24瀏覽次數(shù)：83次
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• 老化測試板用于TO的整盤老化、測試，以及自動分選。普賽斯老化測試板，可以兼容后端老化，測試，分選工藝，提高生產(chǎn)效率。
功能特點(diǎn)
• 一盤老化板可以支持最多32/64顆TO的老化、測試
• 常規(guī)設(shè)計(jì)耐溫范圍：-40℃~150℃（超過150℃需特殊定制）
• 老化板帶熱沉，具有良好的散熱，TO位置固定作用，便于TO自動化測試
• 老化板使用金手指設(shè)計(jì)，插拔壽命長，耐磨耐用
• 尺寸與TO匹配，TO插拔不張腳
• 老化座插拔壽命長，正常使用下可達(dá)10000次以上
• 兼容普賽斯的老化和測試設(shè)備
• 可根據(jù)客戶需求定制
金手義
• LD老化測試板：
LD測試板金手義示例
| PAD(LD1) | A01 | A02 | D01 | D02 |
| Definition | PD- | LD- | PD+ | LD+ |
• LD老化測試板：
PD測試板金手義示例
| PAD(LD1) | A01 | A02 | D01 | D02 |
| Definition | D+ | VCC | APD/IMON | D- |
• EML老化測試板：
EML測試板金手義示例（以CH1為例，CH2-CH32以此類推）
| 正面 | 1 | 2 | 3 | 4 |
| Definition | Rth_GND | LD- | Rth | TEC- |
| 背面 | 131 | 132 | 133 | 134 |
| Definition | PD+（SOA） | LD+ | EA | TEC+ |
典型封裝
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