當前位置：武漢普賽斯電子股份有限公司>>激光雷達TO測試>> 窄脈沖TO測試機
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地武漢市
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更新時間：2025-02-05 07:42:06瀏覽次數(shù)：42次
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• 3D傳感、激光雷達等大功率激光應(yīng)用的TO/COB封裝的性能測試
• 適合實驗室驗證或小批量測試
產(chǎn)品特點
• 集成自制超窄脈沖 SMU、最小脈沖到 100ns，電流 30A
• 脈沖保證有平頂區(qū)，支持峰值檢測，保證測試真實性
• ???????測試載臺采用高導(dǎo)熱材料，TEC溫控，溫度范圍可支持25~85°C
• ???????測試與老化夾具兼容，不需要轉(zhuǎn)料
• ???????支持快速光譜測試
• ???????支持遠場發(fā)散角測試
• 支持近場測試，均勻性與壞點檢測
???????
| 參 數(shù) | 指 標 |
| 測試類型 | TO56、COB |
| 脈沖電流輸出 | 0~30A |
| 脈沖性能 | 脈寬：≥100ns； 占空比：≤0.1% |
| 脈沖電流測量 | 0~30A |
| 脈沖電壓輸出 | 0~40V |
| 脈沖電壓測量 | 0~40V |
| 光功率檢測 | 外接積分球，功率范圍：10W~200W |
| 溫控方式 | TEC溫控 |
| 溫控性能
| 溫控范圍：25℃~+85℃ 溫控波動性：±0.5℃ 溫控速度：升溫15℃/min ，降溫10℃/min，@25℃~85℃ |
| 光譜測試功能 | 支持 |
| 近場測試功能 | 1、發(fā)光孔數(shù)2、暗壞點孔數(shù)3、均勻性4、可測試范圍：2*2mm |
| 測試效率 | LIV測試時間小于4s（掃描1000點/脈沖周期1ms） LIV測試+光譜測試小于7s（掃描1000點/脈沖周期1ms） |
| 輸入電源 | AC220V/50Hz/ 8A |
| 氣源條件 | 正壓：≥0.5MPa，流量120L/min |
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