低對比度細節(jié)檢測模體 TO-16

1.低對比度細節(jié)模體用于快速定量檢測影像成像質量，可以用于X射線放射影像系統(tǒng)，CR系統(tǒng)(TO16);

2.直徑250mm，厚度10mm;圓板中有12組不同細節(jié)點，每組中有12個不同直徑的細節(jié)點。144個細節(jié)點的對比度范圍從0.0014到0.924(在75kV和1.5mm銅濾過的條件下)。

TO-16低對比度細節(jié)檢測模體特點：

　　1、低對比度細節(jié)模體用于快速定量檢測影像成像質量，可以用于X射線放射影像系統(tǒng)和CR系統(tǒng)；

　　2、這些測試對象旨在快速定量圖像質量。結果可以繪制在閾值檢測指數(shù)曲線上。

　　TO-16低對比度細節(jié)檢測模體符合新WS標準

TO-16低對比度細節(jié)檢測模體技術參數(shù)：

　　直徑250mm，厚度10mm

　　圓板中有12組不同細節(jié)點，每組中有12個不同直徑的細節(jié)點，直徑從0.25m到11mm

　　144個細節(jié)點的對比度范圍從0.0014到0.924（在75kV和1.5mm銅濾過的條下）

　　144個細節(jié)（12×12對比細節(jié)）

　　尺寸范圍11mm至0.25mm

對比度范圍0.0014至0.924 （在75kV，1.5mm Cu過濾條件下）