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超級電容容量內(nèi)阻測試儀N8130系列為NGI公司針對超級電容、電池研發(fā)和生產(chǎn)而自主設(shè)計開發(fā)的新一代專用測試儀器。采樣速度高達1ms，充轉(zhuǎn)放過程無縫切換，N8130超級電容、電池充電容量、放電容量、充電等效串聯(lián)內(nèi)阻、放電等效串聯(lián)內(nèi)阻、能量轉(zhuǎn)換效率、循環(huán)壽命等電氣參數(shù)進行高精度測試測量。N8130支持六步法，IEC62391，QC/T 741等全部主流測試標準，用戶可根據(jù)需要靈活選。N8130上位機軟件支持平臺化測試應(yīng)用，用戶可根據(jù)測試工藝和測試流程自行定制測試文件，測試結(jié)果可方便存儲和導(dǎo)出。導(dǎo)出格式可支持數(shù)據(jù)庫、EXCEL、JPG文件。

超級電容容量內(nèi)阻測試儀N8130系列特點：

■  電流范圍：0-50mA / 500mA / 2A / 10A

■  電壓范圍：0-6V

■  恒流充電、恒流放電、恒壓充電、循環(huán)壽命、充電容量，放電容量、DCIR(直流等效內(nèi)阻)等參數(shù)測試

■  采樣&通訊傳輸間隔高達1ms，真實還原測試過程數(shù)據(jù)

■  充轉(zhuǎn)放過程無縫切換，無過充過放

■  功能豐富的上位軟件，支持生產(chǎn)分選功能

■  每通道對應(yīng)狀態(tài)指示燈，分選更方便

■  強大的數(shù)據(jù)存儲與分析功能 

■  百兆以太網(wǎng)通訊

■  兼容A/h、W/h、F等多種容量測試方法

容量測量

直流內(nèi)阻(DCIR)測試

壽命測試

N8130可通過重復(fù)充放電循環(huán)測試，測量超級電容在充放電過程中表征壽命特征的各項物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通過分析參數(shù)衰減曲線，用戶可獲取超級電容在不同應(yīng)用環(huán)境下的預(yù)計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽命測試結(jié)果可用于指導(dǎo)材料、工藝、存儲等諸多環(huán)節(jié)的改善。

四線制測量功能

超級電容測試過程中需要輸出較大電流，測試線將會引入較大電壓降（線損），影響測量精度。N8130全系列型號均采用四線制接線方式，直接采集超級電容兩端電壓而避免因測試線線損帶來的電壓誤差，從而確保測量精度。

測試夾(治)具

考慮到不同規(guī)模的測試應(yīng)用場景，NGI提供兩種測試夾（治）具供用戶選擇：開爾文夾、12通道專用治具。兩種測試夾（治）具均為四線制接法。

測試軟件

(1) N8130測試軟件采用平臺化設(shè)計，用戶可根據(jù)工藝需求自行定制測試流程。

(2) 類Office界面風(fēng)格，各通道獨立顯示，支持電壓電流波形繪制，可以表格形式顯示結(jié)果等諸多元素，使得這款專業(yè)軟件在具備強大測試功能同時，兼具美觀易用優(yōu)點。

應(yīng)用領(lǐng)域