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日本hitachi(cosmopia)液槽沖擊試驗(yàn)箱
日本hitachi(cosmopia)液槽沖擊試驗(yàn)箱(冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī))采用渦旋式壓縮機(jī),使其在低溫領(lǐng)域也能實(shí)現(xiàn)高效和穩(wěn)定的運(yùn)行。不論是在提高各類產(chǎn)品的可靠性方面...
型號: ES-96EX-L
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/7/14 14:32:11
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日立液槽沖擊試驗(yàn)箱HITACHI沖擊試驗(yàn)箱cosmopia試驗(yàn)箱日立代理環(huán)境試驗(yàn)箱
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低溫低濕箱
日本hitachi(cosmopia)低溫低濕箱,用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、...
型號: EC-85MHPD
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:55:55
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渦旋式壓縮機(jī)噪音低震動小日立代理低溫低濕箱實(shí)驗(yàn)室可靠性檢測設(shè)備
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高壓蒸煮試驗(yàn)箱PC-242HSA
高壓蒸煮試驗(yàn)箱PC-242HSA該設(shè)備主要用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件,和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題,以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。為了提高試驗(yàn)效...
型號:
所在地:深圳市
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面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:52:48
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PC-242HSA高壓蒸煮試驗(yàn)箱HIRAYAMA代理商加速壽命測試雙腔設(shè)計(jì)
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日本hitachi(cosmopia)冷熱沖擊試驗(yàn)箱
日本hitachi(cosmopia)冷熱沖擊試驗(yàn)箱為進(jìn)口的冷熱沖擊試驗(yàn)箱,可根據(jù)用戶要求設(shè)計(jì)制造,適用于航空、航太、軍工、艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機(jī)及零部件的...
型號: ES-107L
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:47:13
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cosmopia代理渦旋式壓縮機(jī)冷熱沖擊試驗(yàn)箱可靠性測試ES-107L
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高加速壽命試驗(yàn)箱
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱具備 非飽和/飽和控制 兩種模式。具備可記錄150個(gè)程序的控制器,操作簡單方便。箱門采用按鈕式,試驗(yàn)中自動鎖緊,安全可靠。通過緩...
型號: PC-422R9D
所在地:深圳市
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面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:43:50
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雙腔體設(shè)計(jì)防止結(jié)露老化試驗(yàn)HAST試驗(yàn)HIRAYAMA代理
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導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置
導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置RTm-30DC并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。
型號: RTm-30DC
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面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:40:26
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低阻測試儀CAF試驗(yàn)絕緣阻力電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)導(dǎo)通電阻測試
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J-RAS ECMr離子遷移試驗(yàn)裝置
J-RAS ECMr離子遷移試驗(yàn)裝置,在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置 絕緣...
型號: ECMr-1000...
所在地:深圳市
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面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:36:52
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離子遷移測試系統(tǒng)CAF測試高壓絕緣測試儀可靠性測試大電壓測試
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日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱
日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱恒溫恒濕箱,用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機(jī)、通...
型號: EC-16MHHP
所在地:深圳市
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面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:32:34
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EC-恒溫恒濕箱試驗(yàn)箱日立恒溫恒濕箱環(huán)境箱cosmopia
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日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱
日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱,恒濕恒溫箱是指能同時(shí)施加溫度、濕度應(yīng)力的試驗(yàn)箱,用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐...
型號: EC-46MHHP
所在地:深圳市
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面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:30:11
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恒溫恒濕試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備恒溫箱試驗(yàn)箱
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日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱
日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車...
型號: EC-86MHHP
所在地:深圳市
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面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:27:49
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恒溫恒濕設(shè)備TCT半導(dǎo)體環(huán)境設(shè)備日立環(huán)境箱日本cosmopia
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日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱
日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱,用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。日立環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的核心部分,采用渦...
型號: EC-106MHH...
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面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:25:49
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hitachi試驗(yàn)箱日立環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備cosmopia恒溫恒濕箱TCT日立代理
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日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱
日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車...
型號: EC-86LHHP
所在地:深圳市
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面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:22:37
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恒溫恒濕箱電子元件試驗(yàn)箱日立環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備日本cosmapia環(huán)境箱HITACHI老化箱
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Analysis熱阻測試儀
Analysis熱阻測試儀Phascl2主要用于測試二極管,三極管,線形調(diào)壓器,可控硅,LED,MOSFET,MESFET ,IlGBT,IC等分立功率器件的熱...
型號: Phascl2
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面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:18:25
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氧殺菌除臭裝置除臭裝置熱阻測試裝置
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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF),在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。
型號: HVUα-3000...
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面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:15:57
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離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置CAF試驗(yàn)絕緣阻力電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)CAF測試裝置
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離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置(CAF)
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置(CAF) 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時(shí)間的測試(1 ~1000小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻...
型號: HVUα-2000...
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:13:40
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離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置CAF試驗(yàn)絕緣阻力電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)CAF測試裝置
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日本hitachi(cosmopia)液槽沖擊試驗(yàn)箱
日本hitachi(cosmopia)液槽沖擊試驗(yàn)箱采用渦旋式壓縮機(jī),使其在低溫領(lǐng)域也能實(shí)現(xiàn)高效和穩(wěn)定的運(yùn)行。不論是在提高各類產(chǎn)品的可靠性方面還是在食品、化學(xué)、...
型號: ES-66EX-L
所在地:深圳市
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面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:11:57
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液槽沖擊試驗(yàn)箱日立沖擊試驗(yàn)箱日本hitachi試驗(yàn)箱日本cosmopia環(huán)境箱TACHI液槽試驗(yàn)箱
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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置 絕緣可靠性評估,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時(shí)間的測試(1 ~1000小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生...
型號: HVUα-1000...
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:09:32
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離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置CAF試驗(yàn)絕緣阻力電阻試驗(yàn)絕緣劣化試驗(yàn)絕緣可靠性評估
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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)絕緣電阻值測試,在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。
型號: ECM-500
所在地:深圳市
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面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:07:47
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離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置絕緣電阻值測試CAF測試信賴性測試失效分析
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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經(jīng)過長時(shí)間的測試(1 ~1000小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短...
型號: ECM-100
所在地:深圳市
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面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:05:50
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絕緣電阻值檢測CAF測試方法CAF設(shè)備離子遷移測試離子遷移檢測設(shè)備
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HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱
HIRAYAMA公司專業(yè)從事研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、高壓殺菌器,醫(yī)療設(shè)備,HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱 HAST/PCT設(shè)備。高加速壽命試驗(yàn)箱
型號: PC-702R8
所在地:深圳市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/7/4 18:00:09
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HIRAYAMA試驗(yàn)箱加速壽命試驗(yàn)箱高加速壽命試驗(yàn)箱PC-702R8老化箱