當(dāng)前位置:科睿設(shè)備有限公司>>材料表征設(shè)備>> 單點(diǎn)開爾文探針 開爾文探針系統(tǒng)
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更新時(shí)間:2023-05-20 09:56:21瀏覽次數(shù):443次
聯(lián)系我時(shí),請告知來自 儀表網(wǎng)單點(diǎn)開爾文探針
單點(diǎn)開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢,表面功函。由材料表面頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界分辨率的測試系統(tǒng)。
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