PCM結(jié)晶監(jiān)測(cè)系統(tǒng)

結(jié)晶監(jiān)測(cè)系統(tǒng)（PCM）專為在線測(cè)量結(jié)晶工藝過程而設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)結(jié)合了原位工藝過程顯微鏡與的圖像分析技術(shù)。PCM提供工藝過程的實(shí)時(shí)影像視圖和關(guān)于晶體特征的詳細(xì)分析數(shù)據(jù)，例如尺寸分布，形態(tài)和濃度。PCM的測(cè)試結(jié)果可以有效地幫助過程優(yōu)化、過程控制和故障排查。使用PCM可以幫助提高過程產(chǎn)能，降低最終產(chǎn)品的質(zhì)量波動(dòng)。PCM具有靈活的安裝機(jī)制，它可安裝在從實(shí)驗(yàn)室到規(guī)模生產(chǎn)階段的反應(yīng)釜及結(jié)晶器多種設(shè)備中。這種技術(shù)可以被用于連續(xù)生產(chǎn)過程或批次生產(chǎn)過程。

PCM的基礎(chǔ)是實(shí)時(shí)影像，它為您提供有關(guān)工藝過程有價(jià)值的可視化信息。此外，t結(jié)晶監(jiān)測(cè)系統(tǒng)（PCM）的圖像分析算法可以檢測(cè)圖像數(shù)據(jù)中的晶體和其它粒子，獲得過程結(jié)晶分布的實(shí)時(shí)統(tǒng)計(jì)結(jié)果并生成關(guān)于其特征以及其它懸浮體特性的詳細(xì)實(shí)時(shí)數(shù)字信息。

PCM測(cè)試結(jié)果

- 晶體尺寸分布和相關(guān)統(tǒng)計(jì)（平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差; D10，D50，D90等)

- 晶體生長(zhǎng)速率

- 晶體長(zhǎng)徑比

- 測(cè)試區(qū)域的晶體數(shù)量和成核速率

- 體系流動(dòng)性

- 晶體尺寸累積分布（D10, D50, D90等）

- 微晶和粗晶百分比