首頁>>上海正衡電子科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>電磁兼容測(cè)試>>用于開發(fā)過程的發(fā)生器
P1 set迷你型場(chǎng)脈沖發(fā)生器 參考價(jià)：面議
P1 set迷你型場(chǎng)脈沖發(fā)生器迷你型脈沖群發(fā)生器的結(jié)構(gòu)小巧，可用于開發(fā)過程中排除電子組件的電磁薄弱點(diǎn)。在發(fā)生器的頭部能發(fā)出突發(fā)干擾場(chǎng)和靜電放電干擾場(chǎng).
S2 set E1 磁場(chǎng)探頭 參考價(jià)：面議
電子設(shè)備和電子元件在干擾作用下會(huì)產(chǎn)生快速瞬態(tài)脈沖磁場(chǎng)，S2 setE1 磁場(chǎng)探頭組中包含的有源和無源磁場(chǎng)探頭可以無反饋地測(cè)量這些快速瞬態(tài)脈沖磁場(chǎng)。
PCBA印刷電路板抗干擾開發(fā)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PCBA印刷電路板抗干擾開發(fā)系統(tǒng) E1 set是一套集成電路板開發(fā)過程中進(jìn)行抗干擾分析的 EMC工具系統(tǒng)。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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