蘇州兀象科學(xué)儀器 XRF探測(cè)器 Sipin探測(cè)器
DPA-Si-pin是蘇州兀象科學(xué)儀器有限公司生產(chǎn)的一款高性能XRF探測(cè)器、Sipin探測(cè)器(半導(dǎo)體探測(cè)器),具備較高的能量分辨率和性價(jià)比,它的高性能、小尺寸和低成本使其成為X熒光光譜分析儀的理想探測(cè)器。

產(chǎn)品描述:
● 139eV FWHM 分辨率 @ 5.9 keV 
● 傳感器厚度 500 μm
● 傳感器?積 6-25mm2
● 適宜能量范圍 1 KeV-40 KeV
● USB接?,RS232接?,Ethernet接?
● ?需液氮制冷
產(chǎn)品應(yīng)用:
● X-Ray Fluorescence X射線熒光光譜儀
● RoHS / WEEE Compliance XRF
● OEM 及其特殊應(yīng)?
● 在線分析檢測(cè)
● 科研
蘇州兀象科學(xué)儀器 XRF探測(cè)器 Sipin探測(cè)器 規(guī)格參數(shù)概述

準(zhǔn)直器的使用
?多數(shù)探測(cè)器都裝有內(nèi)部準(zhǔn)直器,以提?光譜質(zhì)量。X射線在探測(cè)器有效區(qū)域邊緣附近相互作?,可能會(huì)由于部分電荷收集?產(chǎn)?逃逸峰。
在某些應(yīng)?中,這些逃逸峰會(huì)影響感興趣信號(hào)。內(nèi)部準(zhǔn)直器將X射線限制在產(chǎn)?完整信號(hào)的有效區(qū)域內(nèi)。準(zhǔn)直器可根據(jù)探測(cè)器類(lèi)型改進(jìn)峰背?(P/B)、消除逃逸峰和改善準(zhǔn)直器?擾峰。



































