蘇州兀象科學(xué)儀器 硅漂移探測(cè)器 SDD探測(cè)器
DPAE-VSDD-Pro 是蘇州兀象科學(xué)儀器有限公司生產(chǎn)的一款高性能硅漂移探測(cè)器、SDD探測(cè)器,可在極低的成形時(shí)間下實(shí)現(xiàn)高分辨率和高計(jì)數(shù)率,它的高性能、高密封性等特性使其在X熒光光譜分析中得到廣泛的應(yīng)用。
產(chǎn)品描述:
● 125eV FWHM 分辨率 @ 5.9 keV
● ?峰背?: 15,000:1
● 20 mm2/ 30mm2 / 50mm2 X 450 μm
● 達(dá)峰時(shí)間(Max Cooling):1μs
● 最?輸?計(jì)數(shù)率:2000KCPS
● USB接?, RS232接?, Ethernet 接?
● ?需液氮制冷
● 極限真空 10-7 Torr
● 真空法蘭(可選,圖6所示)
產(chǎn)品應(yīng)用:
● X-Ray Fluorescence X射線熒光光譜儀
● RoHS / WEEE Compliance XRF
● OEM 及其特殊應(yīng)?
● 在線分析檢測(cè)
● 科研
蘇州兀象科學(xué)儀器 硅漂移探測(cè)器 SDD探測(cè)器 規(guī)格參數(shù)概述
準(zhǔn)直器的使用
?多數(shù)探測(cè)器都裝有內(nèi)部準(zhǔn)直器,以提?光譜質(zhì)量。X射線在探測(cè)器有效區(qū)域邊緣附近相互作?,可能會(huì)由于部分電荷收集?產(chǎn)?逃逸峰。
在某些應(yīng)?中,這些逃逸峰會(huì)影響感興趣信號(hào)。內(nèi)部準(zhǔn)直器將X射線限制在產(chǎn)?完整信號(hào)的有效區(qū)域內(nèi)。準(zhǔn)直器可根據(jù)探測(cè)器類(lèi)型改進(jìn)峰背?(P/B)、消除逃逸峰和改善準(zhǔn)直器?擾峰。