電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領域，作為研究開發(fā)和的分析工具被廣泛使用，其用途越來越廣。此外，在學術領域 ，地球空間科學、材料科學領域也在廣泛使用，礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等，期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻。與此相應，在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。JXA-iHP200F能更加有效地進行觀察分析操作，是更的一體化集成場發(fā)射EPMA。
* EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡稱
◇ [Setting]
自動定位，準確安裝樣品臺！迅速找到想觀察的點！
進樣和獲取樣品臺導航像一鍵完成。從導航像能夠指定分析區(qū)域。
◇ [Analysis]
充分的自動功能，誰都可以拍到高級的SEM像
繁瑣的設定也能對應，EPMA立馬進行元素分析
光學顯微鏡的自動聚焦功能與配備高精度/高速化新系統(tǒng)的SEM自動功能相結合，任誰都可以拍到高級的SEM像。
【live Analysis】
通過【live Analysis】能夠在觀察中進行篩選分析。初學者也能操作的【簡單的EPMA】。
用【EPMA-XRF integration】在XRF數(shù)據(jù)的基礎上能夠進行EPMA的條件設定。用【W(wǎng)D/ED integration】能夠縮短分析時間。SEM、EDS、XRF、WDS、光學像的集成一體化提高了儀器的操作性能。JXA-iHP200F用圖片3.jpg
通過WD/ED integration，分析時間縮短的例子
integration：用這些儀器推定的元素在一體化EPMA上可以一鍵設定分光晶體的組合
◇ [Self Maintenance]
內(nèi)置18種類校正樣品，有效進行校正
配置【分光器校正功能】減輕了定期進行分光器校正的作業(yè)而且也避免了校正樣品設定時的人為失誤；利用夜間對儀器進行校正，提高了工作效率。
按照【維護通知功能】，在必要時期對儀器進行自我維護，保持設備狀態(tài)。
維護通知功能【客戶支持工具】
◇ 標配場發(fā)射電子槍
能夠在高倍率下獲得高空間分辨率的SEM像和分析結果。在大電流下保持長時間穩(wěn)定的熱電子槍在短時間內(nèi)分析微量元素的時候、整夜運行分析大量樣品的時候顯示出它的威力。
| 檢測元素范圍 | WDS: Be＊1 / B to U, EDS: Be to U |
| 檢測X-ray 范圍 | 波長范圍WDS: 0.087 to 9.3 nm 能量范圍EDS: 20 keV |
| 譜儀數(shù) | WDS: 最多5個可選, EDS: 1個 |
| 樣品尺寸 | 100 mm × 100 mm × 50 mm (H) |
| 加速電壓 | 1 to 30 kV (0.1 kV steps) |
| 探針電流范圍 | 1 pA to 3 μA |
| 探針電流穩(wěn)定性 | ± 0.3％ / h, ± 1.0％ /12 h＊2 |
| 二次電子像分辨率（觀察模式） | 2.5 nm |
| 二次電子像分辨率（分析模式下） | 20 nm（ 10 kV, 10 nA） 50 nm（ 10 kV, 100 nA） |
| 掃描放大倍率 | ×40 to 300,000 (W.D. 11 mm) |
| 掃描圖像分辨率 | Maxium 5,120 × 3,840 |
