電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域，作為研究開發(fā)和的分析工具被廣泛使用，其用途越來(lái)越廣。此外，在學(xué)術(shù)領(lǐng)域 ，地球空間科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域也在廣泛使用，礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等，期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻(xiàn)。與此相應(yīng)，在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。JXA-iHP100能更加有效地進(jìn)行觀察分析操作，是更的一體化EPMA。
* EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡(jiǎn)稱
◇ [Setting]
自動(dòng)定位，準(zhǔn)確安裝樣品臺(tái)！迅速找到想觀察的點(diǎn)！
進(jìn)樣和獲取樣品臺(tái)導(dǎo)航像一鍵完成。從導(dǎo)航像能夠指定分析區(qū)域。
◇ [Analysis]
充分的自動(dòng)功能，誰(shuí)都可以拍到高級(jí)的SEM像
繁瑣的設(shè)定也能對(duì)應(yīng)，EPMA立馬進(jìn)行元素分析
光學(xué)顯微鏡的自動(dòng)聚焦功能與配備高精度/高速化新系統(tǒng)的SEM自動(dòng)功能相結(jié)合，任誰(shuí)都可以拍到高級(jí)的SEM像。
【live Analysis】
通過(guò)【live Analysis】能夠在觀察中進(jìn)行篩選分析。初學(xué)者也能操作的【簡(jiǎn)單的EPMA】。用【EPMA-XRF integration】在XRF數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上能夠進(jìn)行EPMA的條件設(shè)定。用【W(wǎng)D/ED integration】能夠縮短分析時(shí)間。SEM、EDS、XRF、WDS、光學(xué)像的集成一體化提高了儀器的操作性能。
通過(guò)WD/ED integration，分析時(shí)間縮短的例子
integration：用這些儀器推定的元素在一體化EPMA上可以一鍵設(shè)定分光晶體的組合
◇ [Self Maintenance]
內(nèi)置18種類校正樣品，有效進(jìn)行校正
配置【分光器校正功能】減輕了定期進(jìn)行分光器校正的作業(yè)而且也避免了校正樣品設(shè)定時(shí)的人為失誤；利用夜間對(duì)儀器進(jìn)行校正，提高了工作效率。
按照【維護(hù)通知功能】，在必要時(shí)期對(duì)儀器進(jìn)行自我維護(hù)，保持設(shè)備狀態(tài)。
維護(hù)通知功能【客戶支持工具】
| 檢測(cè)元素范圍 | WDS: Be＊1 / B to U, EDS: Be to U |
| 檢測(cè)X-ray 范圍 | 波長(zhǎng)范圍WDS: 0.087 to 9.3 nm 能量范圍EDS: 20 keV |
| 譜儀數(shù) | WDS: 最多5個(gè)可選, EDS: 1個(gè) |
| 樣品尺寸 | 100 mm × 100 mm × 50 mm (H) |
| 加速電壓 | 0.2 to 30 kV (0.1 kV steps) |
| 探針電流范圍 | 1 pA to 10 μA |
| 探針電流穩(wěn)定性 | ± 0.05％ / h, ± 0.3％ / 12 h（W） |
| 二次電子像分辨率（觀察模式） | 6 nm（W）, 5 nm（LaB6）＊3 |
| 掃描放大倍率 | ×40 to 300,000 (W.D. 11 mm) |
| 掃描圖像分辨率 | Maxium 5,120 × 3,840 |
