峰谷精度 | ± 0.6 nm (λ / 1000) |
峰谷分辨率 | 0.05 nm(λ/ 12000) |
波前RMS重復性 | < 0.23="" nm(λ=""> |
單點RMS重復性 | < 0.06="" nm(λ=""> |
激光類型和波長 | He-Ne ,632.8 nm |
數(shù)值孔徑NA | 0.55(f#0.91) |
數(shù)據(jù)采集 | 相移干涉技術(PSI) |
圖像縮放系統(tǒng) | 通過軟件界面控制4倍光學變焦 |
采集時間 | 10ms |
曝光時間 | 最小40μs |
光學聚焦范圍 | ±2m |
理想?yún)⒖迹簾o使用物理參考引入的傳播錯誤
- 節(jié)省時間,無需更改大量物理參考
- 節(jié)省成本,無需購買昂貴的參考套件
透射球面檢測精度比Fizeau干涉儀的檢測精度高100倍
- 節(jié)省時間和成本,不需要中間儀器或其他方法來提高準確性
D7比其他干涉儀檢查更多的表面特征
- 在安裝和啟動光學系統(tǒng)之前能更好地揭示制造缺陷誤差,從而節(jié)省了成本
高穩(wěn)定性
- 節(jié)省時間,出色的重復性提供了高準確性的結果
- 節(jié)省成本,檢測不需要特殊的環(huán)境條件
應用范圍廣
- 結構緊湊簡單,不論下實驗室或工廠使用都可以
無回程誤差
- 在測量非球面和自由曲面時,簡化了設置,節(jié)省了時間和成本
測量方案
2.球形凸面:
3.平面:
4.光學系統(tǒng)(波前質(zhì)量測試):
光學測試與測量
光學測試和測量服務包括測試光學系統(tǒng)的凹面,凸面,直角立方體,平面,非球面,自由形式和透射波前的表面圖形,以及曲率半徑的測量
光學設計與制造
基于在高精度光學系統(tǒng)計算機建模方面的30多年經(jīng)驗,我們建立了自己的合作伙伴關系,以設計和制造高質(zhì)量的光學器件。我們在光學制造方面的長期合作伙伴是KPU-韓國工業(yè)大學。