該設(shè)備為并行測(cè)試儀器,是以并行測(cè)試技術(shù)為支撐的新一代測(cè)試系統(tǒng),目標(biāo)是解決目前自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中存在的測(cè)試效率低,投入成本大,測(cè)試程式可通兼容性差等問(wèn)題。 并行測(cè)試技術(shù)屬新一代測(cè)試技術(shù)范疇,是支撐AT5608D-F射頻測(cè)試系統(tǒng)的新技術(shù)之一,根植于并行處理技術(shù),在并行測(cè)試程式的控制下多個(gè)被測(cè)對(duì)象同時(shí)進(jìn)行測(cè)試,相比傳統(tǒng)順序測(cè)試技術(shù),它通過(guò)對(duì)系統(tǒng)資源的優(yōu)化利用可以大幅度提高測(cè)試效率,提高測(cè)試資源利用率,大幅度降低測(cè)試成本。
主要技術(shù)參數(shù)規(guī)格
頻率范圍:500MHZ -- 6000MHZ
功率:+30DB(峰值)+ 23DB(均值)
射頻端口:2(VSG + VSA)+4個(gè)(DUT)
支持技術(shù):WIFI802.11a/b/g /n/ac
控制接口:1000M(以太網(wǎng)接口)
電源規(guī)格:100 - 250V AC500W
并行度:支持4個(gè)DUT同時(shí)測(cè)試
