我們的單點開爾文探針系統(tǒng)采用非零信號檢測方法對材料的功函數(shù)/費米能級進行非常高質量的測量。單點開爾文探針系統(tǒng)
單點開爾文探針系統(tǒng)
單點開爾文探針系統(tǒng)采用經(jīng)濟的配置使用戶能夠快速記錄非掃描數(shù)據(jù)，專用軟件允許對所有參數(shù)進行全數(shù)字控制，以符合被調查樣品的準確要求。記錄的數(shù)據(jù)很容易輸出到分析軟件。
單點開爾文探針系統(tǒng)KP020對于快速事件可以以每分鐘超過300次工作功能測量的速率記錄工作功能，或者單點開爾文探針系統(tǒng)將跟蹤數(shù)天內緩慢的工作功能演變。單點開爾文探針系統(tǒng)KP Mini系統(tǒng)提供了相同的功能，但在我們的300 x 300 mm光學外殼中，占地面積減少了55%。
單點開爾文探針系統(tǒng)應用
有機和非有機半導體
金屬和金屬合金
薄膜和表面氧化物
腐蝕與納米技術
太陽能電池與有機光伏
附加組件
掃描開爾文探針系統(tǒng)
相對濕度控制和氮氣環(huán)境室
環(huán)境壓力光電發(fā)射光譜（APS）
樣品加熱器至250°C
表面光電壓譜（400-1000nm）
表面光電壓（QTH或LED）
用開爾文探針測量功函數(shù)
單點開爾文探針系統(tǒng)應用
1-3mev的功函數(shù)分辨率
用于升級和附加組件的模塊化系統(tǒng)
經(jīng)濟、進入系統(tǒng)
USB版本即插即用
非零信號檢測系統(tǒng)
單點開爾文探針系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)
單點開爾文探針系統(tǒng)KP020對于快速事件可以以每分鐘超過300次工作功能測量的速率記錄工作功能，或者單點開爾文探針系統(tǒng)將跟蹤數(shù)天內緩慢的工作功能演變。單點開爾文探針系統(tǒng)KP Mini系統(tǒng)提供了相同的功能，但在我們的300 x 300 mm光學外殼中，占地面積減少了55%。
單點開爾文探針系統(tǒng)應用
有機和非有機半導體
金屬和金屬合金
薄膜和表面氧化物
腐蝕與納米技術
太陽能電池與有機光伏
附加組件
掃描開爾文探針系統(tǒng)
相對濕度控制和氮氣環(huán)境室
環(huán)境壓力光電發(fā)射光譜（APS）
樣品加熱器至250°C
表面光電壓譜（400-1000nm）
表面光電壓（QTH或LED）
用開爾文探針測量功函數(shù)
單點開爾文探針系統(tǒng)應用
1-3mev的功函數(shù)分辨率
用于升級和附加組件的模塊化系統(tǒng)
經(jīng)濟、進入系統(tǒng)
USB版本即插即用
非零信號檢測系統(tǒng)
單點開爾文探針系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)
| KP020 | KP Mini | |
| Tip material/diameter | Standard 2 mm gold tip (other sizes and materials available on request) | |
| Work function resolution | 1 - 3 meV | |
| Probe translation | 25 mm manual translation | |
| Visualisation | Single-point work function/contact potential difference measurement | |
| Oscilloscope | Digital TFT oscilloscope for real time signal | |
| Test sample | Gold and aluminium test sample | |
| Control supplied | PC control with dedicated software for fill digital control of all parameters | |
| Height regulation | Through DC probe adjustments | |
| Detection system | Off-null with parasitic capacity rejection | |
| Faraday/optical enclosure | 450 mm x 450 mm | 300 mm x 300 mm |
| Optical system | Colour camera with zoom lens and monitor | |
| Warranty | Twelve months | |
單點開爾文探針系統(tǒng)
