X射線熒光光譜儀

產(chǎn)品信息

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最新產(chǎn)品\ NEW PRODUCT

767401-U2-C1-P1-F
767401-U2-C1-P1-F氣體壓力標(biāo)準(zhǔn)MC100系列氣體壓力校驗(yàn)儀：767401-U1-C1-P1-D、767402-U1-C1-P1-D、767401-U1-C1-P2-D、767402-U1-C1-P2-D、767401-U1-C2-P1-D、767402-U1-C2-P1-D、767401-U1-C3-P1-D、767402-U1-C3-P1-D等型號
IKEIDARIKA池田理化X射線
IKEIDARIKA池田理化X射線熒光分析儀MESA-50
MESA-50,S6JAGUAR,S2PUMA-S,S2PUMA-C,S2PUMA-A,Supermini200,LIBS-VULCAN,X-MET8000
無損檢測-X射線廢料檢測回
無損檢測-X射線廢料檢測回收光譜分析儀：用于材料成分辨別，快速識別合金現(xiàn)場元素識別系統(tǒng)。
三元鋰電池光譜儀手持三
三元鋰電池光譜儀手持三元催化分析儀：應(yīng)用于鋰電池材料的元素檢測檢測如Ni鎳、Co鈷、Mn錳元素及含量
手持三元材料分析儀三元
手持三元材料分析儀三元鋰電池分析儀，應(yīng)用于鋰電池材料的元素檢測檢測如Ni鎳、Co鈷、Mn錳元素及含量
手持式文博考古檢測儀壁
手持式文博考古檢測儀壁畫分析儀光譜儀采用新的手持式XRF技術(shù)可對具有藝術(shù)，考古和歷史意義的現(xiàn)場物體進(jìn)行快速，高精度的測量。從這些研究中收集的信息可用于物體的恢復(fù)和保存，以及有關(guān)其成分，出處，技術(shù)，真實(shí)性和日期的信息。
X熒光分析儀型號：SPY/W
1.同時(shí)分析元素周期表中由鈉（11Na）到鈾（92U）之間的元素；
2.可檢測固體﹑液體﹑粉末，要復(fù)雜的制樣過程；
3.分析時(shí)間短，僅為數(shù)十秒到幾分鐘；
4.可實(shí)現(xiàn)損檢測，不破壞貴重樣品；
5.分析測量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從10-6 – ；
X熒光分析儀型號：SPY/W
SPY/WISDOM-5000 X熒光分析儀主于測試塑料和其他部件是否滿足ROHS指令的快速，非破壞性的熒光分析儀器。它對受限元素Pb、Hg、Cd、Cr和Br提供了快速定量分析。如電線、PCB、塑料、插接件、焊錫等不同電子產(chǎn)品以在WISDOM-5000上進(jìn)行測試。同時(shí)該儀器可以進(jìn)行鍍層厚度測量，包括單、雙及三層鍍層系統(tǒng)、雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量等，此外還可以測量其
X熒光分析儀（水泥行業(yè)）
設(shè)計(jì)，表現(xiàn)，適用于實(shí)驗(yàn)室和野外
可測量毫克/升濃度和空氣飽和度，準(zhǔn)確度高達(dá)±0.03毫克/升或±0.3%空氣飽和度
空氣飽和度模式使校準(zhǔn)程序變得快捷簡單，免除了測量探頭溫度和大氣壓之所需，使氧氣溶解系數(shù)不詳液體的測量變得可行
BGF3000型X熒光分析儀
BGF3000型X熒光分析儀具有一體化可旋轉(zhuǎn)的彩色輕觸式顯示屏結(jié)構(gòu)。采用高性能微型X射線管和電致冷SDD探測器，以及嵌入式32為ARM處理器Windows操作系統(tǒng)PDA主機(jī)。儀器具有很強(qiáng)的現(xiàn)場數(shù)據(jù)采集、分析和處理能力，一次測量完畢后自動(dòng)計(jì)算多種目標(biāo)元素的含量。

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X射線熒光光譜儀

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