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傳統(tǒng)的電容式物位計(jì),隨著物位上升、物料覆蓋探頭,電路中探頭和介質(zhì)之間的電容值(導(dǎo)電物料場(chǎng)合)或者探頭和管壁之間的電容值(絕緣物料場(chǎng)合)隨之增加。由于物位的變化導(dǎo)致了電容橋的失衡,所以電容值的變化取決于被測(cè)物料的介電常數(shù)。然后通過對(duì)信號(hào)的檢波、放大,輸出相應(yīng)的信號(hào)。然而,電容式物位儀表有一些缺點(diǎn),特別是當(dāng)探頭有掛料的時(shí)候會(huì)嚴(yán)重影響測(cè)量結(jié)果。
射頻導(dǎo)納測(cè)量技術(shù)是具有優(yōu)勢(shì)的物位測(cè)量技術(shù)。雖然跟一般的電容式測(cè)量技術(shù)的概念很相似,但是射頻導(dǎo)納技術(shù)在電子單元中加入了Driving-Shield電路和斬波電路,因此能夠?qū)崿F(xiàn)阻抗和容抗的單獨(dú)測(cè)量。通過物理定律計(jì)算可得,任何掛料的阻抗和容抗的大小是相等的,所以由掛料產(chǎn)生的影響能夠被測(cè)量出來并且通過振蕩電路的移相,從總的輸出中去除。
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