鍍層測(cè)厚儀可滿足各種形狀樣品的測(cè)試要求

來(lái)源：蘇州吉恩斯檢測(cè)技術(shù)服務(wù)有限公司 2021年09月22日 18:58

　　隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，鍍層測(cè)厚儀已朝著小型化、智能化、多功能化、高精度化和實(shí)用化邁進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率達(dá)到了0.1微米，精度可以達(dá)到1%，有了很大的提高。適用范圍廣，量程廣，操作簡(jiǎn)單，是工業(yè)和科研中廣泛使用的測(cè)厚儀器。

　　鍍層測(cè)厚儀以其快速、無(wú)損、現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)，在冶金、建材、地質(zhì)、環(huán)保、商檢、考古、醫(yī)藥等領(lǐng)域得到迅速推廣應(yīng)用。近年來(lái)，在工業(yè)涂層和涂層厚度測(cè)量中得到越來(lái)越廣泛的應(yīng)用。產(chǎn)品和金屬部件表面的涂層或防腐涂層的厚度是關(guān)系到產(chǎn)品質(zhì)量和性能的重要指標(biāo)。實(shí)驗(yàn)表明，同位素X射線熒光分析方法能夠滿足工業(yè)鍍層和鍍層厚度分析的要求，具有無(wú)損、在線、簡(jiǎn)單快速、自動(dòng)控制等特點(diǎn)。

　　1、可滿足不同厚度、不規(guī)則表面樣品的測(cè)試要求。

　　2、φ0.1mm小孔準(zhǔn)直器可滿足微量測(cè)試點(diǎn)需求。

　　3、高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm。

　　4、采用高度定位激光器，可自動(dòng)定位和測(cè)試高度。

　　5、定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)光斑。

　　6、鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置為被測(cè)點(diǎn)。

　　7、高分辨率探頭使分析結(jié)果更準(zhǔn)確。

　　8、良好的射線屏蔽。

　　9、測(cè)試口高靈敏度傳感器保護(hù)。

　　鍍層測(cè)厚儀可滿足各種形狀樣品的測(cè)試要求；準(zhǔn)直器和濾光片手動(dòng)切換：不同的樣品材料使用不同的準(zhǔn)直器；移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)；高分辨率檢測(cè)器：提高分析精度；新一代高壓電源和X射線管：性能穩(wěn)定可靠，測(cè)試效率高。

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