環(huán)境試驗箱出廠前需要進行的幾種調試介紹
以下是對環(huán)境試驗箱進行校準的3種方法以及優(yōu)缺點：
1、在有負載條件校準：
此方法的優(yōu)點是：能夠比較準確地評估測試樣品對環(huán)境試驗箱性能的影響、易于得到測試樣品關鍵部件或部位的環(huán)境試驗的詳細信息。而它的主要缺點是：當更換測試樣品時，需要重新校準。
2、在無負載條件校準
此方法的優(yōu)點是：環(huán)境試驗箱的整個工作區(qū)域都得到了校準、能夠對試驗箱的適用性做出有效的評估。而它的主要缺點是：不能評估測試樣品對試驗箱所造成的影響。
3、在使用過程中的時實測量
此方法的優(yōu)點是：不僅具有和上述的方法具有的優(yōu)點。而且能夠得到測試樣品在環(huán)境過程中全面的環(huán)境參數(shù)，往往在對環(huán)境的要求很高的產品試驗時采用。它的主要缺點是：每次環(huán)境試驗都需要使用測量設備，通常在試驗箱校準時采用無負載條件下的校準方法。
一般在通過上述方式對環(huán)境試驗箱進行調試校準，能盡量模擬出較為可靠的試驗環(huán)境，從而對試樣作出準確的分析及評價。