芯片可靠度測試
可靠度技術(shù)概念
可靠度是產(chǎn)品以標準技術(shù)條件下，在特定時間內(nèi)展現(xiàn)特定功能的能力，可靠度是量測失效的可能性，失效的比率，以及產(chǎn)品的可修護性。根據(jù)產(chǎn)品的技術(shù)規(guī)范以及客戶的要求，我們可以執(zhí)行MIL-STD, JEDEC, IEC, JESD, AEC, and EIA等不同規(guī)范的可靠度的測試。
測試機臺種類
高溫貯存試驗 (HTST, High Temperature Storage test)：HONGZHAN PV-324
低溫貯存試驗(LTST, Low Temperature Storage test)：HONGZHAN :PL-4KP PSL-2KH
溫濕度貯存試驗 (THST, Temperature & Humidity Storage test)：HONGZHAN :PL-4KP PSL-2KH
 溫濕度偏壓試驗 (THB, Temperature & Humidity with bias test)：HONGZHAN :PL-4KP PSL-2KH
高溫水蒸汽壓力試驗 (Pressure Cooker test (PCT/UB-HAST)：HONGZHAN EHS-221MD
高加速溫濕度試驗 (HAST, Highly Accelerated Stress test )：HONGZHAN EHS-221MD
溫度循環(huán)試驗 (TCT, Temperature Cycling test)：HONGZHAN TSA-71H
溫度沖擊試驗 (TST, Thermal Shock test )：HONGZHAN TSB-51
高溫壽命試驗 (HTOL, High Temperature Operation Life test )：KYEC KYE 680 SSE B1120M
高溫偏壓試驗 (BLT, Bias Life test)：KYEC KYE 680 SSE B1120M
回焊爐 (Reflow Test)：臺技 SMD-10-M16HAO