遠(yuǎn)程控制恒溫恒濕試驗箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能，例如材料的耐熱性能、耐寒性能以及耐濕性能等。隨著產(chǎn)品質(zhì)量及性能要求的不斷提高，高低溫濕熱試驗箱在產(chǎn)品的檢測過程中扮演著越來越重要的角色，本試驗箱已廣泛應(yīng)用于電工電子、半導(dǎo)體、光電、通訊、航天、機(jī)械、實驗室、汽車、醫(yī)療、建材等多領(lǐng)域科技產(chǎn)業(yè)。

技術(shù)參數(shù)：

一、使用環(huán)境條件：盡量保證環(huán)境溫度在+25℃左右，不超過35度，空載(部份參數(shù)依備注)無試樣時。

二、溫度均勻度： ±2℃

三、顯示精度：±0.01℃；

四、溫度波動度：±0.5℃；

五、溫度偏差：≤±2.0℃；

七、升溫速率：平均3℃/min（從+25℃升到+150℃約30min、非線性空載）；

八、降溫速率：平均1℃/min（從+25℃降到-40℃約60min、非線性空載）；

九、升降溫過沖：≤±2.0℃；

十、負(fù)載：無；

十一、恒定發(fā)熱負(fù)載：無；

十二、噪音：≤65dB（A 聲級）

遠(yuǎn)程控制恒溫恒濕試驗箱執(zhí)行與滿足的標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》；

GB/T 10586-2006《濕熱試驗箱技術(shù)條件》。

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法；

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法；