LET-2000系列半導體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

LET-2000D是滿足IEC60747-8/9、JESD24標準的半導體動態(tài)參數(shù)分析系統(tǒng)。旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數(shù)評估、驅動設計、PCB設計等需要半導體動態(tài)參數(shù)的場合。特別對于應用第三代半導體的需要，LET2000D有著較高的系統(tǒng)帶寬，可以有效的測量出實際的器件參數(shù)。

- 雙脈沖測試法可以測試 IGBT 模塊和驅動的性能，獲取 IGBT 穩(wěn)態(tài)和暫態(tài)過程中的主要參數(shù)，用以評估IGBT 模塊和驅動的性能，并進行電路參數(shù)的優(yōu)化。

- 具體包括測試 IGBT 的實際工況、開關損耗、關斷電壓尖峰、開關暫態(tài)震蕩情況、二極管反向恢復電流、雜散電感影響、吸收電路影響、 短路保護功能等， 可以通過測試進行優(yōu)化柵極電阻 RG_ON 和 RG_OFF 參數(shù)、吸收電路參數(shù)、開關頻率設置等，并可以進行 IGBT 模塊的并聯(lián)和串聯(lián)實驗。