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TYPE 系列高對(duì)比度分辨力測(cè)試卡主要用于測(cè)試X射線機(jī)的高分辨率,適用于X射線成像的分辨率檢測(cè)和質(zhì)量控制以及X射線成像設(shè)備的質(zhì)量保證。
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TYPE 系列高對(duì)比度分辨力測(cè)試卡主要用于測(cè)試X射線機(jī)的高分辨率,適用于X射線成像的分辨率檢測(cè)和質(zhì)量控制以及X射線成像設(shè)備的質(zhì)量保證。
其中Type 38(適用于透視設(shè)備)分辨率范圍0.6~5.0 lp/mm,鉛厚度為0.1mm;Type 81(適用于DR、CR)分辨率范圍0.6~10.0 lp/mm,鉛厚度為0.1mm;Type 18D(適用于乳腺設(shè)備)分辨率范圍0.5~20.0 lp/mm。
符合標(biāo)準(zhǔn):WS 76-2020《X 射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測(cè)規(guī)范》。
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