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應(yīng)力集中檢測儀

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產(chǎn)品型號TC-TSC-2M-8

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地北京市

更新時間:2025-07-25 17:05:42瀏覽次數(shù):760次

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產(chǎn)地 國產(chǎn) 加工定制
應(yīng)力集中檢測儀 金屬磁記憶檢測儀  型號:TC-TSC-2M-8

TC-TSC-2M-8應(yīng)力集中磁檢測儀是應(yīng)用金屬磁記憶法來測量、記錄和處理設(shè)備與結(jié)構(gòu)的應(yīng)力形變狀況的診斷數(shù)據(jù)的系統(tǒng)。
   能用于按專門的檢測方法來評估設(shè)備的應(yīng)力變形狀況,并測定應(yīng)力集中區(qū)。此儀器的工作原理在于測量被檢測對象表面磁場Hp的分布。磁場強(qiáng)度使用A/m (安培/米)為單位,長度計數(shù)器換算出長度值,以mm為單位。

 

 

     應(yīng)力集中檢測儀 金屬磁記憶檢測儀 TC-TSC-2M-8 

、記錄和處理設(shè)備與結(jié)構(gòu)的應(yīng)力形變狀況的診斷數(shù)據(jù)的系統(tǒng)。
   能用于按專門的檢測方法來評估設(shè)備的應(yīng)力變形狀況,并測定應(yīng)力集中區(qū)。此儀器的工作原理在于測量被檢測對象表面磁場Hp的分布。磁場強(qiáng)度使用A/m (安培/米)為單位,長度計數(shù)器換算出長度值,以mm為單位。

    
  該系列儀器從方法上確立了磁場Hp分布同殘余應(yīng)力之間的關(guān)系。本儀器連同開發(fā)出來的于不同工業(yè)部門的檢測方法,對在運行中設(shè)備的診斷領(lǐng)域提供了嶄新的原理和手段。這里所采用的條件是,找出結(jié)構(gòu)的薄弱部位,其形式是金屬的磁記憶。檢測方法符合聯(lián)邦采礦技術(shù)監(jiān)督局的規(guī)定。本儀器已被推薦進(jìn)入聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)

功能外,同時擁有以下更*結(jié)構(gòu)和功能特點:

  多達(dá)8個測量通道;
  使用配備新型雙分量傳感器,多個鐵磁探測式轉(zhuǎn)換器放置成雙分量,用來同時檢測磁場的法向分量(Нру)和切向分量(Нрх);

    應(yīng)力集中檢測儀 金屬磁記憶檢測儀
  數(shù)字電路、16位微處理器、1M內(nèi)存;
  32MB存儲空間,用于寫入10-15天期間檢測結(jié)果而無須將信息轉(zhuǎn)入電腦;
  分辨率為320X240點陣的大屏幕液晶顯示;
  操作簡化,使用14鍵鍵盤;
  軟件直接在儀器上自動處理結(jié)果;
  探頭可以測量場強(qiáng)值和移動長度值,速度Z大可達(dá)0.5米/秒;
  不要求對被檢測對象進(jìn)行專門的磁化,因為它利用了它們運行中形成的殘余磁性;
  不要求對被檢測表面作任何準(zhǔn)備;
  在檢測過程中能確定事先不知道的金屬的應(yīng)力集中和缺陷的部位;
  儀器能把數(shù)據(jù)記錄到存儲器,并可把數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)錄入計算機(jī)中;
  配套提供分析軟件MM-System,可在計算機(jī)上對數(shù)據(jù)作深入的處理。

技術(shù)參數(shù):

 

 
 

0.6 kg

 

 

 

 

 

產(chǎn)品名稱:數(shù)字式電阻率測試儀/便攜式電阻率檢測儀
產(chǎn)品型號:M-2

數(shù)字式電阻率測試儀/便攜式電阻率檢測儀型號:M-2

一·概述 
M-2型數(shù)字式電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多種用途綜合測量裝置,它可以測量片狀,塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率,測量擴(kuò)散層的薄層電阻(也稱方塊電阻)。換上特制的四探針測試夾具,還可以對金屬導(dǎo)體的低,中值電阻進(jìn)行測量。 

儀器由主機(jī),測試探頭(可選配測試臺)等部分組成,測試結(jié)果用數(shù)字表頭直接顯示。主機(jī)主要由數(shù)控恒流源,高分辨率ADC,嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成,自動轉(zhuǎn)換量程。測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成,定位準(zhǔn)確,游移率較小,壽命長。 

儀器于半導(dǎo)體材料廠,半導(dǎo)體器件廠,科研單位,高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能的測試。特別于要求快速測量中低電阻率的場合. 

本儀器工作條件為: 
溫度:  
相對濕度: 60% ~ 70% 
工作室內(nèi)應(yīng)無強(qiáng)電磁場干擾,不與高頻設(shè)備共用電源 

二· 技術(shù)參數(shù) 
1. 測量范圍: 

電阻率:10 -2  ~ 102Ω-cm 
方塊電阻:10 -1  ~ 103Ω/□ 
電阻:10 -3  ~ 9999Ω 



2. 可測半導(dǎo)體材料尺寸 
直徑:15mm-100mm 
長(或高)度:≤400mm 


3. 測量方位: 
軸向,徑向均可 

4. 數(shù)字電壓表 
量程:2V 
誤差: :± 0.1% FSB ± 2LSB 
Z大分辨力:10μA 
精度: 18位ADC ( 5 1/2 位) 
顯示:4位數(shù)字顯示,小數(shù)點自動顯示 

5. 數(shù)控恒流源 
電流輸出: 直流電流 2μA~ 2mA, 2μA步進(jìn)可調(diào),系統(tǒng)自動調(diào)整。 
誤差:± 0.1% FSB ± 0.5LSB 

6. 四探針測試探頭: 
探針間距: 1mm 
探針機(jī)械游移率:± 1% 
探針:碳化鎢,直徑0.5mm 
7.電源:  
DC 4.5V ~8V 
功耗: < 1W 
電源適配器:輸入: 220V±10% 50Hz 
輸出:DC5V ± 10% 
8. 外形尺寸: 
主機(jī): 170mm (長) X 130mm (寬) X50mm(高)

 

 

 

 

產(chǎn)品名稱:可塑性試驗機(jī) 
產(chǎn)品型號:KSD-49


可塑性試驗機(jī) 型號:KSD-49

用途:于測定生膠、素?zé)捘z、混合膠的可塑性。 
主要技術(shù)參數(shù): 
兩平行板間試樣承受力:49±0.05N 
控制溫度:70±1℃ 
百分表測程:0-30mm,精度0.01mm 
電熱功率:220V±10%、700W、50Hz

 

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