鉑悅儀器(上海)有限公司武漢辦事處
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產(chǎn)品型號MProbe NIR
品 牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地上海市
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更新時間:2024-11-24 07:40:32瀏覽次數(shù):131次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)產(chǎn)品描述:采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域
采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域,比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測量。
測量范圍: 100 nm -200um
波長范圍: 900 nm -2500 nm
適用于實時在線測量,多層測量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
測量指標:薄膜厚度,光學常數(shù)
界面友好強大: 一鍵式測量和分析。
實用的工具:曲線擬合和靈敏度分析,背景和變形校正,連接層和材料,多樣品測量,動態(tài)測量和產(chǎn)線批量處理。
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