C2CL4有機溶劑探發(fā)性檢測儀 便攜式四氯乙烯檢測儀
ADT800W-C2CL4 面議
鉑悅儀器(上海)有限公司武漢辦事處
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產(chǎn)品型號MProbe UVVisSR
品 牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地上海市
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更新時間:2024-11-24 07:39:26瀏覽次數(shù):118次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)產(chǎn)品描述:MProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
MProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導(dǎo)體(硅,單晶硅,多晶硅),半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂層(碳化硅,類金剛石炭),聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
該機大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導(dǎo)體(硅,單晶硅,多晶硅),半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂層(碳化硅,類金剛石炭),聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
測量范圍: 1 nm -50um
波長范圍: 200 nm -1000 nm
MProbe UVVisSR薄膜測厚儀適用于實時在線測量,多層測量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。
測量指標(biāo):薄膜厚度,光學(xué)常數(shù)
界面友好強大: 一鍵式測量和分析。
實用的工具:曲線擬合和靈敏度分析,背景和變形校正,連接層和材料,多樣品測量,動態(tài)測量和產(chǎn)線批量處理。
(MProble NIR薄膜測厚儀系統(tǒng)示 )
案例1,73nm SiN氮化硅薄膜的測量
硅晶圓反射率,測量時間10ms
使用Tauc-Lorentz模型,測量SiN薄膜的n和k值
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