高溫蒸煮（）加熱方法：

 ◆採用三面加熱的熱輻射的方式。機械圓表顯示箱內的真空度。

◆發(fā)熱材料為發(fā)熱管；

◆溫度設定範圍：常溫~700℃之間,自由設定你所要的溫度值。

高溫蒸煮 用途：

◆加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產品的電壓、負荷.等），加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
◆用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈3、什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
◆隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受*的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST） 現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（電工委員會）所標準化。 
◆注意事項：USPCT現在稱為HAST（高度加速應力試驗）

應用于電子電器、線路板、化工能源、太陽能、磁性材料等。HAST試驗箱圓形橫置式內槽結構設計方便使用者取置待測物品，可預防試驗中有滴水結露現象，可避免蒸汽過熱直接沖擊操作人員。