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北京亞歐德鵬科技有限公司
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不銹鋼定量環(huán)/定量環(huán)(20ul)

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號DP-DL

品       牌亞歐

廠商性質生產商

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所  在  地北京市

更新時間:2015-11-24 11:41:15瀏覽次數(shù):712次

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曹雙雙

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不銹鋼定量環(huán)/定量環(huán)(20ul) 型號:DP-DL
SF6分解物測試儀 分解物測試儀 SF6分解物檢測儀 型號:DP-GCAGM
DP-GCAGM SF6 分解物測試儀是種精度 化便攜式檢測儀器 , 能迅速測量出 SF6 斷路器、互感器、 GIS 、套管等緣設備中 SF6 氣體分解的主要產物 SO2 、 H2S 、 HF 等的含量;

不銹鋼定量環(huán)/定量環(huán)(20ul)  型號:DP-DL

不銹鋼定量環(huán)/定量環(huán)(20ul)  型號:DP-DL

不銹鋼定量環(huán)/定量環(huán)(20ul)  型號:DP-DL

大量提供,

 

 

 

 

 

 

SF6分解物測試儀 分解物測試儀 SF6分解物檢測儀 型號:DP-GCAGM

DP-GCAGM SF6 分解物測試儀是種精度 化便攜式檢測儀器 , 能迅速測量出 SF6 斷路器、互感器、 GIS 、套管等緣設備中 SF6 氣體分解的主要產物 SO2 、 H2S 、 HF 等的含量; 傳感器全部采用口 SF6 用傳感器,長壽命,保證了測量結果的準確性和重現(xiàn)性。 
    主要應用:故障定位,例行檢測,局放監(jiān)測,氣體凈化,過濾監(jiān)測,故障壓接點檢查,SF6 分解產物檢測,檢查開關內分解產物的產生。

•  耗氣少、測量時間短       •  長期穩(wěn)定性、重復性好

•  操作簡單            •  測量范圍寬、精度

•  體積小、重量輕         •  數(shù)據(jù)存儲和查詢功能

•  無需比色管,電子傳感器直接測量

參數(shù) 
 

SO2

0~100 PPM,精度:±5

操作環(huán)境

環(huán)境溫度:-10~50℃

H2S

0~100 PPM,精度:±5

環(huán)境濕度:0~90%

HF

0~10 PPM,精度:±0.5

設備壓力:≤ 1.5Mpa

樣氣流量

0.5L/min左右

氣接口

口快速自鎖接口

工作電源

交直流兩用

測量管道

5米加長聚四氟乙烯管道

體積

300×200×110

重量

2.5kg

 

 

 

 

 

譜儀/譜儀 型號:DP-821C
 DP-821C型新譜儀是臺電化學分析儀器,可分別記錄電流--電位曲線、半微分曲線、1.5次微分曲線、2.5次微分曲線及電流--時間曲線;可行單掃、循環(huán)伏安、溶出法、記時電流法測定,也可作為壓液相色譜和毛細管電泳電流檢測器。
指標:
* 掃描幅度:-2.5V~+2.5V
* 起始電位:-2.5V~+2.5V
* 電流量程:10 pA~20 mA
* 富集時間:0.1~9.9 min
* 檢測下限:陰:5×10-8 mol/L
      溶出法:10-11mol/L
* 外形尺寸:440×320×130(mm)
* 重  量:6 kg
* 功  耗:50 W
點:
* 方法豐富 組合任選
* 寬幅量程 檢測限低
* LED顯示 直觀方便
* 精選 性能可靠
  廣泛應用于化工、地質、環(huán)保、衛(wèi)生、科研、大院校等。

 

 

 

 

型模擬斷路器 模擬斷路器 型號:DP-GC-MY
模擬斷路器主要用于電力系統(tǒng)斷電保護裝置或成套繼電保護屏的整組試驗,可真實地模擬斷路器的跳合閘時間。在整組試驗時模擬壓斷路器的跳閘及合閘,以避免由于重復的整組試驗成斷路器反復分合帶來的不良影響。
參數(shù)
    ◎ 供電電源AC200V±10%;
    ◎ 跳合閘操作為電源電壓:DC220V、DC110V;
    ◎ 跳合閘阻抗選擇400Ω、200Ω、110Ω;
    ◎ 合閘時間選擇:20-200ms;
    ◎ 跳閘時間選擇:20-100ms;
    ◎ 模擬斷路器常閉/常開接點容量為AC220V/5A。
主要點
    該斷路器采用全數(shù)字電路,時間為數(shù)字撥碼設置,可實現(xiàn)模擬斷路器跳合閘時間設置、三相/分相操作選擇、輸入信號邏輯控制等功能,從而模擬斷路器的跳、合閘動作。

 

 

 

 

固體介質折射率測定儀      型號;DP-FD-OE-3
折射率是反映介質光學性質的重要參數(shù)之。本儀器采用的實驗方法,在光學測量中具有典型性和基本要求的點。用測布儒斯角的方法測量透明介質的折射率及利用測量激光照射半導體薄片的反射系數(shù)方法,測量部分半導體如硅、砷化鎵等介質的折射率。本儀器具有體積小,重量輕,調節(jié)方便,裝置牢靠,實驗數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠等優(yōu)點。本儀器可用于基礎物理實驗,性與研究性物理實驗及物理奧林匹克競賽培訓實驗用。本儀器具有以下優(yōu)點: 
  1.采用強度優(yōu)質鋁合金材料制成,表面經陽氧化處理 ,儀器重量輕、體積小、耐用、不會生銹,使用壽命長。 
  2.帶有刻度的轉盤經精心和加工,轉動輕巧靈活,讀數(shù)準確。 
  3.采用數(shù)字式光功率計測量偏振光光強,測量結果穩(wěn)定可靠。 
  4.有黑色遮光罩擋光,可在明光及通風條件下做光學實驗,在同實驗室各組實驗互不干擾。
  應用本儀器可以成以下實驗: 
  1. 光的偏振現(xiàn)象的觀察和分析,加深對光偏振規(guī)律的認識。掌握獲得線偏振光的知識及確定偏振片偏振方向的方法。 
  2. 用布儒斯定律,測量對可見光透明固體材料的折射率。 
  3.通過測量偏振光二個分量入射到介質上反射光的反射系數(shù),測量半導體硅等材料的折射率。
  儀器主要參數(shù): 
  1. 半導體激光器 波長650nm,功率 1.5-2.0mW,工作電壓3V。 
  2. 轉盤 直徑為2.0cm,可調范圍0-360°,分度值1°。 
  3.水平光學轉臺 可 0-360゜轉動,分度值 1°。 
  4.數(shù)字式光功率計 量程有200uW和2mW二檔,三位半液晶顯示

 

注:產品詳細介紹資料和上面顯示產品圖片是相對應的 

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