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北京亞歐德鵬科技有限公司
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涂層測厚儀MiniTest3100 MiniTest3100

時間:2017-3-24閱讀:354
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涂層測厚儀MiniTest3100     型號;MiniTest3100 /1100/2100/4100

 

 
涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100 
德EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀點(diǎn):
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
可使用片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
 

MiniTest涂層測厚儀功能 
型號

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

1

1

10

99

每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計(jì),并可設(shè)寬容度限值)

-

1

10

99

可用各自的日期和時間標(biāo)識性的組數(shù)

-

1

500

500

數(shù)據(jù)總量

1

10000

10000

10000

MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar

-

讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar

-

-

組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

存儲顯示每個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

-

-

-

分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值

-

-

顯示并打印測量值、打印的日期和時間

-

其他功能
透過涂層行校準(zhǔn)(CTC)

-

在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)

利用計(jì)算機(jī)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)

補(bǔ)償個常數(shù)(Offset)

-

-

外設(shè)的讀值傳輸存儲功能

-

保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置

更換電池是存儲數(shù)值

設(shè)置限值

-

-

公英制轉(zhuǎn)換

連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別Z大Z小值

-

-

連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)

-

-

浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送

組內(nèi)單值延遲顯示

-

連續(xù)測量模式中顯示Z小值


MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任主機(jī)使用。在選擇Z適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
N型探頭:測量有色金屬基體上的緣覆層 
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

探頭

量程

低端
分辨率

誤差

Z小曲率
半徑(凸/凹)

Z小測量
區(qū)域直徑

Z小基
體厚度

探頭尺寸



應(yīng)

 

 

 

 

 

 

 

F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm


 

 

FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm
N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm
N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm
N50μm

φ15x62mm




 

 

 

 

 

 

 

 

 

N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

無限制

φ17x80mm

注:F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于緣體上的有色金屬覆層。

MiniTest涂層測厚儀探頭圖示
FN1.6
0~1600μm,φ5mm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的緣覆層
量程低端分辨率很(0.1μm)
 
FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
兩用測頭, 別適合測粉末狀的覆層厚度

 
F05
0~500μm,φ3mm
磁性測頭,適于測量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
量程低端分辨宰很(0.1μm)
 
F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很(0.1μm)
 
F3
0~3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
 
F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很(0.1μm)
 
F10
0~10mm,φ20mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

 
F20
0~20mm,φ40mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等 
 
F50
0~50mm,φ300mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
 
N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的緣覆層
量程低端分辨率很(0.1μm)
 
N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的薄鍍鉻層
 
N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的緣覆層
量程低端分辨率很(0.1μm)
 
N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭,適于測量較薄的緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很(0.1μm)
 
N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測頭,適于測量較厚的緣覆層,如橡膠玻璃等
 
N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測頭,適于測量較厚的緣覆層,如橡膠玻璃等
 
N100
0~100mm,200mm
非磁性測頭,適于測量較厚的緣覆層,如橡膠玻璃等
CN02
10~200μm,φ7mm
用于測量緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板
 

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