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涂層測(cè)厚儀MC-2000D型

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ATC系列涂層測(cè)厚儀

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濟(jì)南峰志試驗(yàn)儀器有限公司

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涂層測(cè)厚儀MC-2000D型MC-2000D型涂層測(cè)厚儀（鍍層測(cè)厚儀）是的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、系統(tǒng)校準(zhǔn)

詳細(xì)介紹

涂層測(cè)厚儀MC-2000D型

MC-2000D型涂層測(cè)厚儀（鍍層測(cè)厚儀）是的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、系統(tǒng)校準(zhǔn)。

本儀器采用磁性測(cè)厚法，可以方便無損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

MC-2000D型涂（鍍）層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。

1、測(cè)量范圍 10～9000um

2、測(cè)量誤差 <3%±1um

3、示值 1um

4、顯示方式 4位液晶數(shù)字顯示

5、主要功能

(1)測(cè)量單探頭全量程測(cè)厚

(2)存儲(chǔ)、刪除可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè)，對(duì)測(cè)量中的單個(gè)數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。

(3)讀　讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)

(4)統(tǒng)計(jì) 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量，平均值、大值小值

(5)校準(zhǔn) 可進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)

(6)電量具有欠壓顯示功能

(7)打印可打印測(cè)量值，選配微型打印機(jī)