導波雷達料位計

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更新時間：2017-11-05 23:13:49瀏覽次數(shù)：774次

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上海席肯電子科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

導波雷達料位計

詳細介紹

導波雷達料位計

型號：MH51…56

原理

導波雷達料位計發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質(zhì)，由于介電常數(shù)突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測介質(zhì)的距離成正比。容器中存在兩種不同介質(zhì)，當上面一層的介質(zhì)介電常數(shù)較小，而下面的介質(zhì)介電常數(shù)較大時，高頻微脈沖沿著探測組件傳播遇到上層介質(zhì)時，由于其介電常數(shù)較小，因而有極少的能量被這一層介面反射，而大部分能量穿透上層介質(zhì)繼續(xù)向下傳播，遇到兩層的介面時，由于下層介質(zhì)的介電常數(shù)較大，因而會有較大的能量被反射回來。因而導波雷達是可以測量兩種不同介質(zhì)的介面，其測量條件是上層介質(zhì)不導電或其介電常數(shù)比下層介質(zhì)介電常數(shù)小10以上。

● 應　　用：　　　　液體及固體測量，復雜過程條件。

● zui大量程：　　　　30m

● 測量精度：　　　　±10mm

● 過程連接：　　　　G1½A/G2A/1½NPT

● 探測組件材料：　　不銹鋼316L /PTFE

● 過程溫度：　　　　-40…150°C

● 過程壓力：　　　　-1.0…40bar

● 信號輸出：　　　　兩線制 4…20mA/HART

關(guān)鍵詞：雷達料位計料位計