北京富瑞恒創(chuàng)科技有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)GR/HS-WDI
品 牌
廠商性質(zhì)0
所 在 地北京市
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更新時(shí)間:2025-08-12 18:28:41瀏覽次數(shù):23次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 儀表網(wǎng)北京硅片缺陷觀測(cè)儀于對(duì)硅片的缺陷進(jìn)行觀察,效果非常明顯,包括肉眼無法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等。實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì),提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備
北京硅片缺陷觀測(cè)儀
型號(hào):GR/HS-WDI
北京硅片缺陷觀測(cè)儀,于對(duì)硅片的缺陷進(jìn)行觀察,效果非常明顯,包括肉眼無法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等。
實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì),提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備,能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果;產(chǎn)品特點(diǎn)
■北京硅片缺陷觀測(cè)儀適用于對(duì)硅片的缺陷觀察效果,非常明顯,包括肉眼無法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等;
■使硅片缺陷觀察工作簡(jiǎn)單化,準(zhǔn)確化,同時(shí)大程度降低此項(xiàng)工作強(qiáng)度;
■實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì),提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備,能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果;
■使用 1/2"CMOS 感光芯片,具有體積小,技術(shù),像素較高, 成像清晰 、線條細(xì)膩、色彩豐富;
■傳輸接口為 USB2.0 高速接口, 軟件模塊化設(shè)計(jì) ;
■有效分辨率為 200 萬(wàn)像素;
■所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。
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