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更新時(shí)間：2025-07-31 07:37:01瀏覽次數(shù)：29次
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SPECTROCUBE偏振能量色散X熒光分析儀 ED-XRF
等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)-SPECTROBLUE
20秒內(nèi)獲得高準(zhǔn)確度的結(jié)果（例如：低合金鋼）
定期維護(hù)的工作量（火花臺(tái)清洗）減少8倍
元素在低合金鋼中平均檢測限改善2倍，元素在純鋁中的平均檢測限改善5倍
儀器的占地面積減少27%
單一標(biāo)樣實(shí)現(xiàn)整個(gè)系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)化, 此項(xiàng)每天可節(jié)省30分鐘工作時(shí)間
作為電弧/火花創(chuàng)新技術(shù)的，40多年來，SPECTRO全心投入開發(fā)出的發(fā)射光譜儀。今天，斯派克公司引入CMOS探測器技術(shù)，改變了電弧/火花分析技術(shù)的走向及未來。在所有同類分析儀中，SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象，元素檢測限低限，同時(shí)她也可以提供超長的正常運(yùn)行時(shí)間和非常具有前瞻性的靈活性。
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