詳細(xì)摘要： 掃描型膜厚測試儀全自動(dòng)，超快速，高精準(zhǔn)等膜厚表征繪制和膜厚涂覆的光學(xué)特性，利用光學(xué)反射方法來測量和自動(dòng)分析薄膜涂層的表征。
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北京中兆國儀科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 掃描型膜厚測試儀全自動(dòng)，超快速，高精準(zhǔn)等膜厚表征繪制和膜厚涂覆的光學(xué)特性，利用光學(xué)反射方法來測量和自動(dòng)分析薄膜涂層的表征。
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詳細(xì)摘要： FR-Portable 便攜式膜厚儀高精準(zhǔn)，USB電源驅(qū)動(dòng)便攜式，滿足用戶實(shí)時(shí)需要
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詳細(xì)摘要： 希臘thetametrisis基礎(chǔ)型膜厚儀廣泛范圍的不同應(yīng)用，如標(biāo)準(zhǔn)吸光度/透射率、反射測量、以及在不同溫度和環(huán)境下（甚至是液體中）的薄膜表征的測定。
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詳細(xì)摘要： 光刻機(jī)NX-B200/1000/2000/2500/2600納米壓印光刻機(jī)、 簡稱NIL 、NIL光刻機(jī)、軟紫外納米壓印，熱壓印,紫外納米壓印步進(jìn)閃光壓印,
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詳細(xì)摘要： 華盛昌CEM DT-9873B/9875/9875H紅外熱像儀采用非制冷焦平面紅外探測器，將被測物體的紅外熱譜圖以清晰、靈敏的偽彩圖像方式呈現(xiàn)在您的面前.
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詳細(xì)摘要： POLOS系列沖洗甩干機(jī)濕法刻蝕又稱為濕化學(xué)刻蝕法。它主要是借助刻蝕劑與待刻材料之間的化學(xué)反應(yīng)將待刻膜層溶解，以達(dá)到刻蝕的目的。濕法刻蝕一般被用于工藝流程前面的...
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詳細(xì)摘要： 華盛昌CEM DT-9885/9887/9897紅外熱像儀中端型紅外熱像儀，384X288的紅外成像分辨率，分帶WIFI和不帶WIFI功能，既能滿足品質(zhì)客戶的需...
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詳細(xì)摘要： 濕法刻蝕機(jī)EDC-650-8/EDC-650-15/EDC-650-X濕法刻蝕又稱為濕化學(xué)刻蝕法。它主要是借助刻蝕劑與待刻材料之間的化學(xué)反應(yīng)將待刻膜層溶解，以達(dá)...
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詳細(xì)摘要： 國儀樹立普通鄂式破碎機(jī)適應(yīng)于礦山、冶金、地質(zhì)、建材、輕工、化學(xué)及從事檢測工作的單位需要
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詳細(xì)摘要： 華盛昌 CEM DT-9868簡易型紅外熱成像儀分辨率32*31的熱像儀技術(shù),簡單、易用，同時(shí)不降低測溫的精度，是需要從點(diǎn)測溫過渡到熱成像測溫的用戶選擇和嘗試。
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詳細(xì)摘要： 環(huán)保型顎式破碎機(jī)HB/EP100x100鄂板材質(zhì)，采用高強(qiáng)度材料，耐磨性好，不會(huì)污染試樣
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詳細(xì)摘要： 華盛昌CEM DT-982/982H/982L-8紅外熱像儀可以對高溫物體提供非接觸式溫度分布測量。
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詳細(xì)摘要： CEM DT-980/980A/980H/980L-8紅外熱像儀設(shè)計(jì)新穎、體積小巧、結(jié)實(shí)耐用、性價(jià)比高。
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詳細(xì)摘要： 美國吉時(shí)利3390型 50MHz任意波形發(fā)生器是一款功能靈活、簡潔易用的可編程信號(hào)發(fā)生器，具有的函數(shù)、脈沖和任意波形生成能力。
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詳細(xì)摘要： 美國吉時(shí)利6221型 交直流電源是非常易于使用噪聲極低的精密微電流源。提供了更高的準(zhǔn)確度、穩(wěn)定度、可靠性、堅(jiān)固耐用性。
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詳細(xì)摘要： 美國吉時(shí)利2200可編程直流電源的寬范圍電壓輸出都適于測試和分析組件、電路、模塊和完整器件的特性。
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詳細(xì)摘要： 美國吉時(shí)利2182A型 納伏表用于需要穩(wěn)定、低噪聲電壓和溫度測量的應(yīng)用。是可靠地、重復(fù)地表征低阻材料和器件特性的Z佳儀表，并且比其他的低電壓測量方案能提供更快的...
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詳細(xì)摘要： 美國吉時(shí)利6485/6487/6482皮安表/電壓源融合了吉時(shí)利在靈敏電流測量儀器上的技術(shù)優(yōu)勢，在測量速度及耐用性能上又有改善。
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詳細(xì)摘要： 美國吉時(shí)利6517B型 靜電計(jì)：吉時(shí)利5位顯示的6517B提供的精度和靈敏度指標(biāo)是高于其他同類型儀表。
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詳細(xì)摘要： 美國吉時(shí)利6514靜電計(jì)具有靈活的接口性能，其電流靈敏度、電荷測量能力、分辨率和速度都優(yōu)于我們之前的靜電計(jì)。
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