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更新時間:2023-07-17 08:01:25瀏覽次數(shù):161次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)產(chǎn)品簡介新型TESLA200專為晶圓級IGBT/功率MOSFET(GaN,SiC,Si)器件測量而設(shè)計
產(chǎn)品簡介
新型TESLA200專為晶圓級IGBT/功率MOSFET(GaN,SiC,Si)器件測量而設(shè)計。該系統(tǒng)經(jīng)過精心設(shè)計,可提供高達(dá)3kV(三軸)/10kV(同軸)和200A(標(biāo)準(zhǔn))/600A(大電流)測量的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。具有下一代測量功能,包括防電弧設(shè)計,自動測量以及對工程探針和量產(chǎn)探卡的支持。Tesla200可以全自動完成薄片/翹曲片/Taiko片在完整溫度范圍(-55℃至300℃)內(nèi)的測量。一套系統(tǒng)可以滿足從研發(fā)到量產(chǎn)的所有晶圓級功率測試需求。
產(chǎn)品特性
TESLA200還支持新的應(yīng)用,可用于具有挑戰(zhàn)性的高功率測量,例如靜態(tài)靜態(tài)HV測試(高達(dá)400°C時低漏電),以及動態(tài)功率測試(例如UIS),使用新的超低殘留電容和電感的高低溫載物臺和常溫載物臺。
新型TESLA200具有半自動和全自動模型,具有可擴展性和現(xiàn)場升級性,可以滿足任何預(yù)算要求。該系統(tǒng)是在單個或大量晶片上盡快收集高精度測量數(shù)據(jù)的理想選擇,可用于研發(fā),器件表征/建?;蛄慨a(chǎn)應(yīng)用。
Tesla200植入AttoGuard® and MicroChamber®技術(shù),明顯提升了低漏電和小電容的測試能力。與FormFactor FemtoGuard™ 高低溫載物臺技術(shù)相結(jié)合,Tesla200可以提供超低噪聲,保護(hù)和屏蔽的測試環(huán)境。再結(jié)合MicroVac™技術(shù),保證低接觸阻抗,薄片測量。
為了確保在高壓測量過程中的安全性,TESLA200晶圓上功率半導(dǎo)體探測系統(tǒng)采用了TUV認(rèn)證的安全互鎖系統(tǒng),并集成了符合人體工程學(xué)的透明外殼。 TESLA200具有*的200毫米快速工作臺,自動晶圓裝載器和薄晶圓處理能力,可為科學(xué)家,研發(fā)/測試工程師或生產(chǎn)操作員提供快速完成工作所需的一切。
高達(dá) 10,000 V DC / 600 A 的晶圓上功率器件特性分析
減少了探針和器件在高達(dá) 20 A DC 電流和 300 A 脈沖電流下遭受毀壞的情況
增高了隔離電阻和介電強度,以在高電壓 (3,000 V) 條件下提供完整的三軸能力,從而完成低漏電測量
晶圓上功率器件的特性高達(dá)10,000 V DC
安全便捷的集成套件,可支持TIPS高壓防電弧探針卡
可防止薄晶圓片發(fā)生卷曲和折斷
高級MicroVac卡盤晶圓和卡盤之間的最小接觸表面
在高電流條件下可提供準(zhǔn)確的 Rds(on) 測量
在高溫條件下能完成準(zhǔn)確的 UIS 測量
具有透明外殼的安全聯(lián)鎖系統(tǒng),用于保證器件測量期間操作人員的安全
99%可拉出式載物臺保證簡單、安全的上下片操作
提供了使用方便的連接套件,用于與來自 Keysight Technologies 和主要供應(yīng)商的功率器件分析儀實現(xiàn)簡單和安全的系統(tǒng)集成
Velox 與分析儀/測量軟件之間的無縫集成
ATT可靠、優(yōu)異性能溫控系統(tǒng)
只加熱或-60℃到300℃全溫度范圍靈活選擇
與其他系統(tǒng)相比,CDA消耗降低25%(300L/min),溫度遷移效率不受影響
溫度遷移效率比市場上其他系統(tǒng)快15%
MicroVacTM和FemtoGuradTM技術(shù),提供超低的測量噪聲和可控的漏電流,低殘余電容確保重復(fù)*測量的精度和速度
隨著用戶需求的變化做現(xiàn)場升級
以用戶為中心的設(shè)計地減少了培訓(xùn)成本并提高了效率
Windows 10兼容性可通過的硬件實現(xiàn)性能和安全操作
全面的對齊功能–從簡單的晶圓對齊和對位到*的自動化半導(dǎo)體測量,實現(xiàn)變溫條件下自動探針與pad對準(zhǔn)。
為經(jīng)驗不足的用戶簡化操作流程:工作流程指南和精簡的用戶圖形界面幫助降低培訓(xùn)成本
自動上片裝置集成–簡單創(chuàng)建工作流程和程序,無需額外的軟件
VeloxPro選件:符合SEMI E95的測試執(zhí)行軟件,可簡化操作和整個晶圓測試周期的安全自動測量。
產(chǎn)品應(yīng)用
大功率
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