成都信賽賽思科技有限公司
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更新時(shí)間：2023-07-12 08:18:32瀏覽次數(shù)：88次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 儀表網(wǎng)產(chǎn)品簡(jiǎn)介WAT測(cè)試系統(tǒng)，即晶圓允收測(cè)試（WaferAcceptanceTest），是半導(dǎo)體晶圓在完成所有制程工藝后，針對(duì)晶圓上的電路結(jié)構(gòu)進(jìn)行電性能測(cè)試
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
WAT測(cè)試系統(tǒng)，即晶圓允收測(cè)試（Wafer Acceptance Test），是半導(dǎo)體晶圓在完成所有制程工藝后，針對(duì)晶圓上的電路結(jié)構(gòu)進(jìn)行電性能測(cè)試。
通過對(duì)WAT數(shù)據(jù)的分析，我們可以發(fā)現(xiàn)半導(dǎo)體制程工藝中的問題，幫助制程工藝進(jìn)行調(diào)整。
典型配置
4200A-SCS 參數(shù)分析儀
SMU 2600B 系列 SourceMeter
探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品應(yīng)用
高阻抗應(yīng)用的 C-V 測(cè)量
VCSEL 測(cè)試
納米級(jí)設(shè)備檢定
材料電阻率
MOSFET 檢定
激光二極管 (VCSEL) 生產(chǎn)測(cè)試
LED 簡(jiǎn)化的 I/V 檢定
IDDQ 測(cè)試與待機(jī)電流測(cè)試
高度同步、多針、多通道、少主機(jī)生產(chǎn)系統(tǒng)
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