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校準片

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更新時間：2023-07-01 09:31:49瀏覽次數(shù)：149次

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成都信賽賽思科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品簡介型號外觀主要特性標準阻抗校準片用于ACP、Infinity和FPC探針確保在矢量網(wǎng)絡分析儀的晶圓上校準中獲得更高的準確度和更好的重復精度提供了經(jīng)驗證的LRRM校準準確度具有自動負載電感補償功能CSR校準片與|Z|探針匹配所有的CSR校準片都在校準片本身之上包括Open標準，因而與為了Open而簡單地抬高探針相比，提供了一種更加準確的校準

詳細介紹

產(chǎn)品簡介

型號	外觀	主要特性
標準阻抗校準片		用于 ACP、Infinity 和 FPC 探針確保在矢量網(wǎng)絡分析儀的晶圓上校準中獲得更高的準確度和更好的重復精度提供了經(jīng)驗證的 LRRM 校準準確度具有自動負載電感補償功能
CSR 校準片		與\|Z\|探針匹配所有的 CSR 校準片都在校準片本身之上包括 Open 標準，因而與為了 Open 而簡單地抬高探針相比，提供了一種更加準確的校準。由于我們的探針系統(tǒng)在激光修整工藝中使用，所以對于所有的負載 (Load) 標準，典型準確度皆優(yōu)于 0.1%。而且，在 10 K 至 430 K 的溫度范圍內(nèi)，Load 標準的電阻保持穩(wěn)定在理想值 (50 ?) 的 0.3% 以內(nèi)
多線TRL校準片		毫米波和亞毫米波校準片專為 T-Wave™ 探針而優(yōu)化多線 TRL 校準襯底提供了 CPW 標準，包括反射（短路）、thru 和兩線襯底材料：高阻性硅襯底厚度：275 µm 介電常數(shù)：11.8 標稱 Z0：50 Ω
Pyramid校準片		匹配 DUT 布局的能力改善了 RF 校準，可實現(xiàn)更好的良率探針卡中位點之間偏移的減小免除了建立關(guān)聯(lián)的需要對于多 DUT 校準，通過在多個標準上的單次觸壓減少了校準時間探針、校準片和校準系數(shù)在單個方框中（每個thru的延時、C_OPEN，L_LOAD和L_SHORT）