零下負(fù)60度CDW—60型沖擊試驗(yàn)低溫槽現(xiàn)貨*
CDW-60 面議
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更新時(shí)間:2024-02-24 12:03:39瀏覽次數(shù):230次
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測(cè)試方法:多功能性,可進(jìn)行BET多點(diǎn)法、BET單點(diǎn)法、Langmuir多點(diǎn)法、固體標(biāo)樣參比法等測(cè)試,統(tǒng)計(jì)層厚法(計(jì)算外比表面積)、粒度估算、樣品BET吸附常數(shù)C等測(cè)試方法;測(cè)試精度:測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好
測(cè)試方法: | 多功能性,可進(jìn)行BET多點(diǎn)法、BET單點(diǎn)法、Langmuir多點(diǎn)法、固體標(biāo)樣參比法等測(cè)試,統(tǒng)計(jì)層厚法(計(jì)算外比表面積)、粒度估算、樣品BET吸附常數(shù)C等測(cè)試方法; |
測(cè)試精度: | 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。測(cè)試相對(duì)誤差小于±1.5%; |
測(cè)試范圍: | 測(cè)試范圍廣,可測(cè)定比表面積在0.0005m2/g以上的范圍內(nèi)的物質(zhì),滿足所有粉體物質(zhì)及多孔物質(zhì)比表面積的測(cè)試; 樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等。 |
測(cè)試時(shí)間: | BET多點(diǎn)法同時(shí)可測(cè)試4個(gè)樣品,平均每個(gè)樣品每分壓點(diǎn)測(cè)定時(shí)間約5分鐘,平均每個(gè)樣品總用時(shí)約30min; 固體標(biāo)樣參比法同時(shí)可測(cè)試3個(gè)樣品,平均每個(gè)樣品測(cè)定時(shí)間約6分鐘,以上測(cè)試時(shí)間不包含樣品預(yù)處理時(shí)間。 由于具有風(fēng)熱助脫技術(shù),為國(guó)內(nèi)測(cè)試速度比表面儀; |
測(cè)試氣路: | 采用低溫氮吸附動(dòng)態(tài)色譜法,國(guó)內(nèi)外并聯(lián)氣路,消除了環(huán)境溫度、濕度、大氣壓力等外界影響,無需抽真空,試驗(yàn)室條件要求相對(duì)寬松; |
數(shù)據(jù)處理: | 軟件為自主研發(fā)的高精度數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),高采樣頻率100Hz,全自動(dòng)控制; 具有功能完善的比表面數(shù)據(jù)處理能力;USB通訊接口; |
儀器硬件: | 硬件采用穩(wěn)定而耐用的部件,關(guān)鍵部件全部采用進(jìn)口配件,經(jīng)過嚴(yán)格檢測(cè),適合頻繁測(cè)試; 標(biāo)配40L氦氮混合氣體,氣體使用時(shí)間更長(zhǎng),平均使用2年以上; |
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