南京木木西里科技有限公司
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更新時(shí)間：2023-04-01 07:55:14瀏覽次數(shù)：502次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 儀表網(wǎng)產(chǎn)品介紹INTRODUCTIONParkXE15具備多個(gè)特殊功能,是共享實(shí)驗(yàn)室處理各類樣品、硏究員進(jìn)行多變量實(shí)書笑效分析時(shí)硏究晶片等的
ParkXE15具備多個(gè)特殊功能,是共享實(shí)驗(yàn)室處理各類樣品、硏究員進(jìn)行多變量實(shí)書笑效分析時(shí)硏究晶片等的。合理的價(jià)格搭配強(qiáng)健的性能設(shè)置，使其成為業(yè)內(nèi)的大型樣品原子力顯微鏡。
MultiSample™（多重采樣™）掃描器帶來(lái)樣品測(cè)量
ParkXE15能夠?qū)崿F(xiàn)多樣品一次性自動(dòng)成像，實(shí)現(xiàn)大化。您只需要將樣品放在樣品臺(tái)，再啟動(dòng)掃描程序便可。該功能還可在相同環(huán)境條件下掃描樣品，從而大大提高數(shù)據(jù)的精確性和穩(wěn)定性。
可掃描大件樣品
與大多數(shù)的原子力顯微鏡不同，ParkXE15可掃描尺寸為150mmx150mm的樣品。這既滿足了研究員對(duì)掃描大件樣品的需求，也讓故障分析工程師能夠放置硅片在樣品臺(tái)上。
功能齊全，可滿足各種需求
ParkXE15配有面的掃描模式，可掃描各種尺寸的樣品，從而滿足每位研究人員的需求。
通過(guò)多重采樣™掃描進(jìn)行樣品測(cè)量
無(wú)軸間耦合提高掃描精度
Non-Contact™ （真正非接觸™）模式延長(zhǎng)針尖使用壽命、改善樣品保存及精度
提供用戶體驗(yàn)
選項(xiàng)/模式多樣化
無(wú)掃描器弓形彎曲的平直正交XY軸掃描
park的串?dāng)_消除技術(shù)不僅改善了掃描器弓形彎曲的缺點(diǎn)還能夠在各種不同掃描位置,掃描速率和掃描尺寸條件下進(jìn)行平直正交的XY軸掃描。
即使是最平坦的樣品也不會(huì)出現(xiàn)如光學(xué)平面,各種偏移掃描等曲率的背景。 由此可以為您在研究中遇到的所有極具挑戰(zhàn)性的問(wèn)題提供高精確度的納米測(cè)量。
無(wú)耦合關(guān)系的XY和Z掃描器
Park和競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手最根本的區(qū)別在于掃描器的構(gòu)造，Park又獨(dú)立的XY軸與Z軸掃描器設(shè)計(jì)使其達(dá)到了的高精度的納米分辨率數(shù)據(jù)。
精確的表面測(cè)量
樣品表面平直掃描!
真正非接觸模式TM可保護(hù)針尖鋒利度
原子力顯微鏡的針尖本身很脆弱，與樣品接觸時(shí)會(huì)逐漸降低圖片質(zhì)量和分辨率。測(cè)量表面柔軟的樣品時(shí)，針尖也會(huì)破壞樣品并生成不準(zhǔn)確的樣品高度測(cè)量數(shù)據(jù)。
作為Park原子力顯微鏡最的一種掃描模式，真正非接觸模式下™可持續(xù)生成高分辨率且精確的數(shù)據(jù)從而保持樣品的完整性。
更快速的Z軸伺服使得True Non-Contact AFM有更精確的反饋
Tapping Imaging
True Non-Contact™模式
100μmx 100μm掃描范圍的XY柔性導(dǎo)向掃描器
XY掃描器含系統(tǒng)二維彎曲及強(qiáng)力壓電堆疊，可使極小平面外移動(dòng)形成較大的正交運(yùn)動(dòng)，并能快速響應(yīng)，實(shí)現(xiàn)精確的樣品納米級(jí)掃描。
撓性導(dǎo)向強(qiáng)力Z掃描器
在強(qiáng)力壓電堆疊的驅(qū)動(dòng)及彎曲結(jié)構(gòu)的引導(dǎo)下，其硬度允許掃描器高速豎直運(yùn)動(dòng)，較傳統(tǒng)原子力顯微鏡掃描器更加高速。Z型掃描范圍搭配遠(yuǎn)程Z掃描器(選配)可延長(zhǎng)12μm至25μm。
滑動(dòng)連接的超亮二極管頭
通過(guò)將原子力顯微鏡頭沿楔形軌道滑動(dòng)，可輕松將其插入或取出。低相干的超發(fā)光二極管頭可實(shí)現(xiàn)高反射表面的精確成像和力一距離光譜的精確測(cè)量。超亮二極管頭的波長(zhǎng)幫助減輕干擾問(wèn)題，因此用戶在可見(jiàn)光譜實(shí)驗(yàn)中也可使用本產(chǎn)品。
多樣品夾頭
特殊設(shè)計(jì)的多樣品夾頭，最多可承載16個(gè)獨(dú)立樣品，由多重采樣掃描器自動(dòng)按順序掃描。特殊的夾頭設(shè)計(jì)為接觸樣品針尖預(yù)留了邊通道。
選配編碼器的XY自動(dòng)樣品載臺(tái)
自動(dòng)集成XY載臺(tái)可輕松并精確控制樣品的測(cè)量位置。XY樣品載臺(tái)的行程范圍可配置為150mmx150mm或200 m m x 200 m m。若搭配自動(dòng)載臺(tái)使用編碼器，可提高樣品定位的精確度和重復(fù)性。編碼XY載臺(tái)工作時(shí)分辨率為1μm，重復(fù)率為2μm。編碼Z載臺(tái)的分辨率為0.1μm，重復(fù)率為1μm。
高分辨率數(shù)碼變焦感光元件攝像頭
高分辨率數(shù)碼感光元件攝像頭利用直接同軸光學(xué)，具備變焦功能，無(wú)論是否搖攝均可確保圖像具有清晰的成像質(zhì)量。
垂直對(duì)齊的電動(dòng)z載臺(tái)和聚焦載臺(tái)
Z載臺(tái)和聚焦載臺(tái)可將懸臂嚙合到樣品表面上，同時(shí)確保用戶視野清晰穩(wěn)定。聚焦載臺(tái)是由軟件控制自動(dòng)運(yùn)行的，因此滿足透明樣品及液態(tài)元件應(yīng)用所需精度。
帶DSP控制芯片的Park XE控制電子元件
原子力顯微鏡發(fā)出的納米級(jí)信號(hào)將由高性能Park XE電子元件控制并處理。Park XE電子元件為低噪聲設(shè)計(jì)，配備高速處理單元，可成功實(shí)現(xiàn)真正非接觸TM模式，是納米級(jí)成像及電壓電流精準(zhǔn)測(cè)量的理想選擇。
多重采樣TM掃描
通過(guò)全自動(dòng)樣品載臺(tái)多重采樣掃描™允許用戶自行編程，通過(guò)自動(dòng)化步進(jìn)掃描實(shí)現(xiàn)多區(qū)域成像。流程如下:
記錄多個(gè)掃描位置十分簡(jiǎn)單，您可以輸入樣品一樣品載臺(tái)坐標(biāo)或使用兩個(gè)參考點(diǎn)校正樣品位置。該自動(dòng)化功能可大大減少您在掃描過(guò)程中需要的繁瑣工作，提高效率。
高分辨率的直接同軸光學(xué)元件
用戶可直接俯視觀看樣品，操控樣品表面，從而很容易就能找到目標(biāo)區(qū)域。
高分辨率數(shù)碼攝像頭具備變焦功能，無(wú)論是否搖攝均可確保圖像具有清晰的成像質(zhì)量。
探針和樣品更換簡(jiǎn)便
的頭部設(shè)計(jì)讓您可輕易地從側(cè)面更換探針和樣品。通過(guò)安裝懸臂式探針夾頭中預(yù)先對(duì)齊的懸臂，您無(wú)需進(jìn)行繁雜的激光校準(zhǔn)工作。
快速精準(zhǔn)的SLD光校準(zhǔn)
憑借我們*的預(yù)校準(zhǔn)懸臂架，懸臂在裝載時(shí)SLD光便已聚焦完畢。此外，作為行內(nèi)一家可以提供自上而下的同軸視角可以讓您輕松找到光點(diǎn)。
由于SLD光垂直照在懸臂上，您可通過(guò)旋轉(zhuǎn)兩個(gè)定位按鈕直觀地在X軸Y軸移動(dòng)光點(diǎn)。這樣您可以在激光準(zhǔn)直頁(yè)面中輕易找到SLD光并將其定位在PSPD上。此時(shí)您只需要微調(diào)以得到信號(hào)，便可開(kāi)始獲取數(shù)據(jù)。
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