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更新時(shí)間:2023-03-31 08:38:17瀏覽次數(shù):190次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 儀表網(wǎng)產(chǎn)品介紹INTRODUCTION作為一款缺陷形貌分析的精密測(cè)量?jī)x器,其主要目的是對(duì)樣品進(jìn)行缺陷檢測(cè)
作為一款缺陷形貌分析的精密測(cè)量?jī)x器,其主要目的是對(duì)樣品進(jìn)行缺陷檢測(cè)。
而儀器所提供的數(shù)據(jù)不能允許任何錯(cuò)誤的存在。Park NX20,這款 精密的大型樣品原子力顯微鏡,憑借著出色的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性,在半導(dǎo)體和超平樣品行業(yè)中大受贊揚(yáng)。
大全面的分析功能
ParkNX20具備無(wú)二的功能,可快速幫助客戶找到產(chǎn)品失效的原因,并幫助客戶制定出更多具有創(chuàng)意的解決方案。
的精密度為您帶來(lái)高分辨率數(shù)據(jù),讓您能夠更加專(zhuān)注于工作。與此同時(shí),真正非接觸掃描模式讓探針更耐用, 無(wú)需為頻繁更換探針而耗費(fèi)大量的時(shí)間和金錢(qián)。
即便是次接觸原子顯微鏡的工程師也易于操作
ParkNX20擁有業(yè)界便捷的設(shè)計(jì)和自動(dòng)界面,讓您在使用時(shí)無(wú)需花費(fèi)大量的時(shí)間和精力,也不用為此而時(shí)時(shí)不停的指導(dǎo)初學(xué)者。
借助這一系列特點(diǎn),您可以更加專(zhuān)注于解決更為重大的問(wèn)題,并為客戶提供及時(shí)且富有洞察力的失效分析報(bào)告。
為FA和研究實(shí)驗(yàn)室提供精確的形貌測(cè)量解決方案
低噪聲Z探測(cè)器可精確測(cè)量AFM表面形貌
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用真正的非接觸掃描方式節(jié)省成本
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