1.  將CPLD技術(shù)引入到低本底αβ測(cè)量?jī)x產(chǎn)品中，產(chǎn)品集成度提高。采用多層電路板技術(shù)，高集成度，高可靠性。

2. 多路獨(dú)立運(yùn)行，獨(dú)立計(jì)時(shí)測(cè)量，可隨時(shí)送樣，設(shè)備的使用效率大大提高。目前國(guó)內(nèi)所有其它廠家同類產(chǎn)品均是同步送樣模式，即：雖然是四通道產(chǎn)品，可同時(shí)測(cè)量四個(gè)樣品，但這四個(gè)樣品必需同時(shí)進(jìn)樣，測(cè)量時(shí)的測(cè)量模式設(shè)定（如測(cè)量周期與測(cè)量時(shí)長(zhǎng)等）也必須一樣。即使用戶只有一個(gè)樣品，只使用一個(gè)通道，另三個(gè)通道也必須虛擬一個(gè)樣品使四個(gè)通道同時(shí)工作。而且測(cè)量完成后的數(shù)據(jù)及報(bào)告也均是四個(gè)通道的。換言之，如果你只使用一樣通道測(cè)量一個(gè)樣品，但輸出的報(bào)告卻必須是四個(gè)通道的。在這種情況下，報(bào)告上存在一部多余無(wú)用的數(shù)據(jù)。這樣的工作模式使兩通道及至多通道失去了應(yīng)有的意義。而本公司的PAB-6000系列多路低本底α/β測(cè)量?jī)x的各個(gè)通道均是獨(dú)立的，獨(dú)立送樣，獨(dú)立測(cè)量，獨(dú)立的數(shù)據(jù)及報(bào)告輸出。換言之，當(dāng)用戶只測(cè)量一個(gè)樣品時(shí)，可選擇使用哪個(gè)通道，并設(shè)定該通道的測(cè)量模式（如測(cè)量周期與測(cè)量時(shí)長(zhǎng)）。而且在此期間如果用戶有第二個(gè)樣品或多個(gè)樣品時(shí)，他可以選用余下的未使用通道開(kāi)始新的測(cè)量工作，且每個(gè)通道的測(cè)量模式都可以不同。

3. 采用標(biāo)準(zhǔn)WINDOWS多文檔程序模式設(shè)計(jì)，與操作系統(tǒng)兼容性好，運(yùn)行穩(wěn)定可靠?？赏瑫r(shí)進(jìn)行多組數(shù)據(jù)的測(cè)量、分析、打印預(yù)覽及打印等工作。（目前國(guó)類同類產(chǎn)品的分析程序均是單文檔程序，在測(cè)量過(guò)程中不可進(jìn)行其它操作。）多線程模式運(yùn)行，效率高?？纱蛴y(cè)試報(bào)告并支持打印預(yù)覽?？膳淙我庑吞?hào)的計(jì)算機(jī)，系統(tǒng)的數(shù)據(jù)收集和處理、測(cè)量過(guò)程的控制均由計(jì)算機(jī)完成。

4. 采用通用性 的USB免驅(qū)動(dòng)連接方式，計(jì)算機(jī)無(wú)限制（目前國(guó)內(nèi)多采用串口模式）

5. 采用平端式探測(cè)器 ，對(duì)241Am標(biāo)準(zhǔn)源的效率較普通探測(cè)器提高近5倍，可使單個(gè)樣品測(cè)量時(shí)間及探測(cè)下限大為提高。

6. 采用極低靜態(tài)電流直流高壓線性穩(wěn)壓技術(shù) ，此技術(shù)使產(chǎn)品控制部分小型化，集成度和可靠性提高。

7. 高壓及閾值均采用數(shù)控調(diào)節(jié)（目前國(guó)內(nèi)其它均使用模擬電位器調(diào)節(jié)）

使用帶防護(hù)屏蔽門(mén)的19英寸標(biāo)準(zhǔn)機(jī)箱，外形美觀（可提供實(shí)物圖片比較）?？刂破鞑捎?/span>320*240TFT彩色液晶顯示輸出。