本測量設(shè)備是用于各種材料散射特性測量。通過光源一維旋轉(zhuǎn)，探測器二維旋轉(zhuǎn)實現(xiàn)不同入射和反射（透射）幾何條件下樣品反射、透射輻亮度的測量。系統(tǒng)包括準直光源、光源支架、可調(diào)樣品支架、探測器、探測器旋轉(zhuǎn)機構(gòu)、探測器支架及測試軟件等部分。

BRDF/BTDF測試儀 主要測試參數(shù)

 復(fù)色光和單色光BRDF

 復(fù)色光和單色光BTDF

 不同角度反射透射光通量

 不同角度反射透射輻射亮度

 材料不同角度散射光色溫，色坐標

BRDF/BTDF測試儀 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

1. 光源

 為提高樣品散射信號的信噪比，采用寬光譜高亮度鹵鎢燈作為光源，并通過準直透鏡將光線準直后出射到樣品上。

 可通過調(diào)節(jié)透鏡焦距，實現(xiàn)不同大小光斑。

 光源還可增加濾光片，實現(xiàn)不同顏色單色光入射。

2 光源支架

 通過半圓形光源支架，實現(xiàn)光源0-180°入射角度調(diào)節(jié)。

 采用高精度步進電機，配合軟件控制，保證入射角度精確性。

3.可調(diào)樣品支架

 樣品可被夾持在樣品支架上。

 樣品支架可上下調(diào)節(jié)，通過光源及探測器對準標記，實現(xiàn)樣品位置調(diào)節(jié)及對準。

4.探測器

 采用硅探測器，探測范圍300nm-1000nm。

 進行散射特性**測量時，可選裝探測系統(tǒng)，主要包括成像光學(xué)系統(tǒng)、斬波器、單色儀、探測器和鎖相放大器等。成像光學(xué)系統(tǒng)對樣品漫射板測點成像，像位于單色儀入射狹縫。復(fù)色光進入單色儀入射狹縫經(jīng)準直后由光柵分光，再經(jīng)會聚鏡會聚***探測器，探測器將光信號轉(zhuǎn)換為電信號，由鎖相放大器放大并根據(jù)斬波器頻率提取信號獲得光譜DN值。

5.探測器支架及旋轉(zhuǎn)機構(gòu)

 探測器支架及旋轉(zhuǎn)機構(gòu)，可使探測器在整個球面范圍內(nèi)移動，實現(xiàn)對反射和透射信號測量。

 采用高精度步進電機，配合軟件控制，保證反射和透射角度精確性。

6.軟件部分

為了提高測量速度和精度，特別為裝置開發(fā)了測控軟件，支持多種幾何條件下散射特性一次性自動測量。首先進行光源入射輻亮度測量，而后對樣品漫射板設(shè)定幾何條件反射輻亮度進行測量，如此循環(huán)直***完成所有設(shè)定幾何條件的散射特性測量為止，軟件直接輸出散射特性曲線。

軟件測試界面