涂層測(cè)厚儀leeb220/221/222
采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法，可無(wú)損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度的儀器,以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度
涂層測(cè)厚儀leeb220/221/222
主要功能：
采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法，可無(wú)損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)的儀器,以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。
●全中文菜單；
●兩種測(cè)量方式；
●兩種工作方式；
●可儲(chǔ)存500個(gè)測(cè)量值；
●數(shù)據(jù)刪除功能；
●可設(shè)置界限；
●對(duì)界限外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；
●電源欠壓指示；
●手動(dòng)和自動(dòng)兩種關(guān)機(jī)方式。
技術(shù)參數(shù)：
測(cè)頭類型 | leeb220 | leeb221 | leeb222 | |||
測(cè)頭類型 | F1 | N1 | F1或N1 | |||
工作原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng)或電渦流 | |||
測(cè)量范圍 | 0～1250μm | |||||
低限分辨率 | 0.1μm | |||||
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn) | ±（3%H+1） | ||||
二點(diǎn)校準(zhǔn) | ±[（1~3%)H+1] | |||||
測(cè)試條件 | zui小曲率半徑mm | 凸1.5、凹9 | ||||
zui小面積直徑mm | Φ7 | |||||
基本臨界厚度mm | 0.5 | |||||
工作環(huán)境 | 溫度 | 0~40℃ | ||||
濕度 | 20%~90% | |||||
電源 | AAA型堿性電池1.5V兩節(jié) | |||||
外形尺寸 | 150×55.5×23mm（主機(jī)） | |||||
重量 | F1/165g，N1/205g | |||||
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、AAA型堿性電池 | |||||
選配 | - | - | 多種探頭 | |||
儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)
探頭 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N400 | N1 | CN02 | |||||
測(cè)量原理 | 磁性 | 渦流 | ||||||||||
測(cè)量范圍（μm） | 0～400 | 0～1250 | 0～10mm | 0～400 | 0～12500 | 10～200 | ||||||
測(cè)量精度μm | 一點(diǎn)校準(zhǔn) | ±[(1～3)%H+0.7] | ±（3%H+1） | ±（3%H+10） | ±（3%H+1） | ±（3%H+1.5） | ±(3%H+1) | |||||
二點(diǎn)校準(zhǔn) | ±（1～3％H+0.7） | ±[(1~3)%H+1] | ±[(1～3)%H+10] | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+1.5] | --- | ||||||
低限分辨率 | 0.1 | 0.1 | 1 | 0.1 | 0.1 | 1 | ||||||
zui小曲率半徑(mm) | (凸)1 | 1.5 | 平直 | 10 | 1.5 | 3 | 僅為平面 | |||||
zui小面積直徑(mm) | ￠3 | ￠7 | ￠40 | ￠4 | ￠5 | ￠7 | ||||||
基本臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 2 | 0.3 | 0.3 | 無(wú)限制 | ||||||
測(cè)頭選用參考表
覆蓋層基體 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等） | 非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等） | |||
覆蓋層厚度不超過(guò)100μm | 覆蓋層厚度超過(guò)100μm | 覆蓋層厚度不超過(guò)100μm | 覆蓋層厚度超過(guò)100μm | ||
如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測(cè)面積直徑大于30mm | F400型測(cè)頭0～400μm | F1型測(cè)頭 | F400型測(cè)頭0～400μm | F1型測(cè)頭 |
被測(cè)面積直徑小于30mm | F400型測(cè)頭0～400μm | F400型測(cè)頭0～400μm | F400型測(cè)頭0～400μm | F400型測(cè)頭0～400μm | |
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬 | 被測(cè)面積直徑大于10mm | N1型測(cè)頭0～1250μm | 僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0～40μm N400測(cè)頭0～40μm | ||
被測(cè)面積直徑大于10mm | N400測(cè)頭0～400μm | N400測(cè)頭0～40μm | |||
塑料、印刷線路非金屬基體 | 被測(cè)面積直徑大于7mm | -- | -- | CN02型測(cè)頭10～200μm | |
涂層測(cè)厚儀leeb220/221/222
